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Gamme Keithley 2010 : multimètre à 7,5 digits avec fonction balayage

Le multimètre à faible bruit et 7,5 digits de la gamme 2010 allie un excellent rapport coût-efficacité et une haute résolution, au débit et à la précision nécessaires pour les applications de multimètre numérique haute vitesse, telles que les opérations de test sur les capteurs de précision, les transducteurs, les convertisseurs A/N et N/A, les régulateurs, les références, les connecteurs, les commutateurs et les relais. Basée sur la même technologie de convertisseur A/N à faible bruit et vitesse élevée que les modèles 2000, 2001 et 2002, la gamme 2010 ajoute quatre fonctions de mesure de résistance inédites, ce qui en fait l’outil idéal pour caractériser la résistance, la linéarité ou l’isolation des contacts, des connecteurs, des commutateurs et des relais.

Keithley 2010 Series: 7½-Digit Multimeter with Scanning

Caractéristiques

Gains

Seuil de bruit 100 nV eff Caractérise rapidement et avec précision les composants basse tension.

Répétabilité 7 ppm DCV

Améliore la fiabilité de la précision de vos mesures.
Mode de mesure ohms bas niveau Mesure les faibles résistances avec un courant source jusqu’à 100 μA, minimisant l’échauffement de l’appareil.

Fonction de test sur circuit sec.

Contrôle la tension de test lors des mesures de résistance sur les contacts ou les connecteurs, pour éviter de perforer les films ou couches d’oxydation qui se seraient formés.
Fonction ohms avec compensation du décalage Élimine les effets thermiques pouvant générer des erreurs sur les mesures basse résistance dans les environnements système.
Plage de mesure de résistance 10 Ω Offre des mesures plus précises sur les faibles résistances.
15 fonctions de mesure, avec prise en charge des mesures de température de thermocouple et de résistance détectrice de température Réduit les coûts d’équipement supplémentaire lors de la création des systèmes.
Cartes de commutation enfichables en option, pour les mesures multipoint Simplifie la création d’une solution de mesure et de commutation multipoint et autonome.
Modèle Description Résolution maximum Connectivité Tarif Configure And Quote
2010 7,5 GPIB / RS232 US $5,120 Configuration et devis
Modèle Description Résolution maximum Connectivité Tarif Configure And Quote
2010 7,5 GPIB / RS232 US $5,120 Configuration et devis
Accessoire 2000-SCAN
Fiche technique Description
CARTE SCANNER
Accessoire 2001-TCSCAN
Fiche technique Description
CARTE SCANNER D’USAGE GÉNÉRAL/POUR THERMOCOUPLE
Accessoire 4288-1
Fiche technique Description
KIT POUR MONTAGE EN BAIE À FIXATION UNIQUE
Accessoire 4288-2
Fiche technique Description
KIT POUR MONTAGE EN BAIE À FIXATION DOUBLE
Accessoire 5805
Fiche technique Description
SONDES KELVIN, 0,9 M (3 FT)
Accessoire 5805-12
Fiche technique Description
SONDES KELVIN, 3,6 M (12 FT)
Accessoire KPCI-488LPA
Fiche technique Description
CARTE D’INTERFACE IEEE-488 À PROFIL BAS
Accessoire KUSB-488B
Fiche technique Description
ADAPTATEUR D’INTERFACE USB - GPIB IEEE-488.2
Fiche technique Accessoire Description
Affichage Fiche technique 2000-SCAN CARTE SCANNER
Affichage Fiche technique 2001-TCSCAN CARTE SCANNER D’USAGE GÉNÉRAL/POUR THERMOCOUPLE
Affichage Fiche technique 4288-1 KIT POUR MONTAGE EN BAIE À FIXATION UNIQUE
Affichage Fiche technique 4288-2 KIT POUR MONTAGE EN BAIE À FIXATION DOUBLE
Affichage Fiche technique 5805 SONDES KELVIN, 0,9 M (3 FT)
Affichage Fiche technique 5805-12 SONDES KELVIN, 3,6 M (12 FT)
Affichage Fiche technique KPCI-488LPA CARTE D’INTERFACE IEEE-488 À PROFIL BAS
Affichage Fiche technique KUSB-488B ADAPTATEUR D’INTERFACE USB - GPIB IEEE-488.2

Contrôle automatisé du laboratoire à la chaîne de fabrication

La suite Automated Characterization Suite (ACS) de Keithley offre un contrôle total de votre équipement. Que vous ayez besoin de contrôler quelques instruments sur votre banc ou d'automatiser une baie de test entière pour la production, ACS offre un environnement flexible et interactif pour la caractérisation des appareils, les tests paramétriques, les tests de fiabilité et les tests fonctionnels simples.

  • Effectuez des tests individuels simples ou créez des arbres de projet complexes
  • Codez avec Python dans ACS pour une flexibilité et un contrôle illimités
  • Contrôle manuel ou automatisé du prober au niveau du wafer
  • Capacités de gestion des données et d'analyse statistique

Commencer à automatiser