Conception et fabrication de semi-conducteurs

Les nouveaux matériaux semi-conducteurs, tels que le SiC et le GaN, engendrent souvent des problématiques uniques lors de la phase de développement.

• La caractérisation DC des semi-conducteurs exige des mesures compréhensibles I-V, C-V et à impulsions rapides.
• Tester des dispositifs à semi-conducteurs forte puissance nécessite des tensions et des niveaux de puissance plus élevés, des temps de commutation plus rapides, des courants de crête plus hauts et des courants de fuite plus faibles.
• Les environnements de production de semi-conducteurs exigent de l’automatisation, l’intégration de la station de probing, de la vitesse et du débit pour le tri des puces, ainsi que des tests de fiabilité et d’agrément des wafers.

Les interfaces numériques très rapides nécessitent des cycles de validation PHY plus courts. Accélérer le débogage, le décodage protocolaire et l’identification de la gigue et le bruit des sources telles que la diaphonie sont des exigences critiques pour les concepteurs.

Il y a tant de tests de validation électriques à réaliser en si peu de temps !