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Communications filaires

Accélérez les tests PCIe, SAS et SATA grâce à une solution de test unique incluant des fonctions d’automatisation et de débogage. Accélérez le développement de vos produits 400G grâce aux tests PAM4, qui valident efficacement vos innovations technologiques. Accélérez la mise en conformité de vos appareils de Type C.

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Tests 400G PAM4

  • Accélérer le développement des produits 400G
  • Valider plus rapidement et augmenter le rendement
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Optique cohérente

  • Plus de tâtonnements
  • Automatiser les systèmes pour réduire le temps d’étalonnage et améliorer la précision des mesures
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Tests et débogage PCIe, SAS, SATA

  • Automatiser l’étalonnage
  • Débogage approfondi en mode loopback
  • Intégrité du signal et débogage avancés
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Normes grand public pour Type C

  • Accélérez la mise en conformité des périphériques USB, DisplayPort et HDMI de nouvelle génération
  • Gagner en confiance en ce qui concerne la marge des appareils
  • Éviter toute conception trop ambitieuse et coûteuse

Plus d’application en communications filaires :

Tendances en matière de Communications filaires

Les périphériques connectés et le type de données qu’ils consomment sont en train de changer nos habitudes en matière d’accès, de stockage et de déplacement des données. En savoir plus sur les tendances générales conditionnant le marché des centres de données et des communications filaires.

« Vous devez obtenir les données critiques rapidement. C’est pourquoi j’estime que nous allons voir apparaître des centres de données de taille plus réduite, et plus proches du point de service ».

Sarah Boen, Tektronix

En savoir plus
Title
Solving 400G Data Center Interconnect Measurement Challenges
This webinar will equip you to address the challenges posed by the forthcoming interoperability standards. OIF standards for interoperability of 400G coherent links for Data Center Interconnects (DCI) …
Addressing PCIe Gen1-5 Test and Debug Challenges with Confidence
Learn how to address the test and measurement challenges posed by PCIE Gen1-5 for both base silicon testing and CEM compliance testing. Gain insights and solutions for automation, validation, and …