Logiciel de caractérisation Keithley ACS (Automated Characterization Suite)

Logiciel de caractérisation Keithley ACS (Automated Characterization Suite)

ACS est un environnement de test logiciel interactif et polyvalent, conçu pour la caractérisation des composants à semi-conducteurs, les tests de fiabilité, les tests paramétriques et les tests fonctionnels de composant. Le logiciel ACS prend en charge une large palette d’instruments Keithley, ainsi que les systèmes Keithley S500 et S530. Une flexibilité exceptionnelle en matière de tests et d’analyse et une interface intuitive permettent aux nouveaux utilisateurs d’être productifs presque immédiatement.

  • Interface utilisateur intuitive, qui simplifie le développement des plans de test, l’exécution des tests et l’analyse des résultats
  • Développement et exécution des tests au niveau du composant, du site, du wafer et de la cassette
  • Prise en charge d’une large gamme de configurations d’instrument et de systèmes, y compris les systèmes de test en parallèle multi-SMU
  • Contrôle complet des sondes semi-automatiques et entièrement automatiques
  • Tracé des données interactif et en temps réel

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Logiciel de caractérisation Keithley ACS (Automated Characterization Suite)
Modèle Description Prix catalogue
ACS-BASIC

Le logiciel ACS Basic Edition est principalement destiné au test des composants semi-conducteurs avec équipements de test et stations de probing manuelles. Il vous permet d’effectuer rapidement et de façon interactive la caractérisation initiale du composant, à l’aide du « Trace Mode » (Mode représentation). Vous pouvez également créer des tests d’extraction de paramètres détaillés à l’aide de l’écran de configuration de l’interface utilisateur, et des bibliothèques de mesure, très complètes.

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Configuration et devis
ACS.

Le logiciel ACS prend en charge une large palette de sondes semi-automatiques et entièrement automatiques, afin de mesurer les composants à semi-conducteurs sur l’ensemble d’un wafer. Il permet également de contrôler la sonde de façon interactive pour tester des composants individuels. Surveillez la progression des tests avec des résultats individualisés et des statistiques multi-composants, lors de l’exécution.

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Configuration et devis
Modèle ACS-BASIC
Prix catalogue
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Description

Le logiciel ACS Basic Edition est principalement destiné au test des composants semi-conducteurs avec équipements de test et stations de probing manuelles. Il vous permet d’effectuer rapidement et de façon interactive la caractérisation initiale du composant, à l’aide du « Trace Mode » (Mode représentation). Vous pouvez également créer des tests d’extraction de paramètres détaillés à l’aide de l’écran de configuration de l’interface utilisateur, et des bibliothèques de mesure, très complètes.

Prix catalogue
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Description

Le logiciel ACS prend en charge une large palette de sondes semi-automatiques et entièrement automatiques, afin de mesurer les composants à semi-conducteurs sur l’ensemble d’un wafer. Il permet également de contrôler la sonde de façon interactive pour tester des composants individuels. Surveillez la progression des tests avec des résultats individualisés et des statistiques multi-composants, lors de l’exécution.

Qu’est-ce que le logiciel ACS ?

ACS est un puissant outil logiciel destiné aux ingénieurs chargés d’effectuer une large palette de tests, pour une caractérisation détaillée des composants à semi-conducteurs. Vous pouvez utiliser le logiciel ACS avec une grande variété d’instruments et de systèmes Keithley, leaders du marché. Automatisez les tests au niveau du wafer ou de la cassette, en contrôlant les testeurs sous pointes automatisés à l’aide du logiciel ACS standard. Pour effectuer manuellement des tests ou tester un composant unique, choisissez plutôt ACS Basic Edition. Et pour tester la fiabilité au niveau du wafer (WLR, Wafer Level Reliability), sur plusieurs équipements en même temps, associez le logiciel ACS standard et l’option ACS-2600-RTM.  Découvrez ci-dessous les différents outils de mesure, applications et fonctionnalités du logiciel ACS !

Caractérisation des composants

Créez et gérez une large palette de tests approfondis et de résultats de mesure pour les composants semi-conducteurs discrets de type MOSFET, transistors bipolaires, diodes, IGBT forte puissance, etc. Explorez ci-dessous la vaste gamme de fonctionnalités de mesure proposée par Keithley.

Cliquez sur une fonctionnalité de mesure sur le côté gauche pour afficher sa description

Logiciel ACS
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Le logiciel ACS prend en charge une large palette de testeurs semi-automatiques et entièrement automatiques, afin de mesurer les composants semi-conducteurs sur l’ensemble d’un wafer. Il permet également de contrôler la sonde de façon interactive pour tester des composants individuels. Surveillez la progression des tests avec des résultats individualisés et des statistiques multi-composants, lors de l’exécution.

Logiciel ACS Basic Edition

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Le logiciel ACS Basic Edition est principalement destiné au test des composants semi-conducteurs avec équipements de test et stations de probing manuelles. Il vous permet d’effectuer rapidement et de façon interactive la caractérisation initiale du composant, à l’aide du « Trace Mode » (Mode représentation). Vous pouvez également créer des tests d’extraction de paramètres détaillés à l’aide de l’écran de configuration de l’interface utilisateur, et des bibliothèques de mesure, très complètes. La version de base du logiciel ACS fournit rapidement des résultats en temps réel, pour analyse directement dans le logiciel ou pour exportation vers des outils d’analyse à posteriori.

Système d’unités de source et de mesure gamme 2600B SourceMeter ®
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La gamme 2600B d’unité de source et de mesure (SMU) propose des unités à deux voies, idéales pour tester les composants à semi-conducteurs multi-ports tels que les MOSFET et les transistors bipolaires à jonction (BJT). D’autre part, Keithley TSP-Link® permet un contrôle coordonné et une synchronisation précise entre les instruments SMU. Faites votre choix parmi une large variété de modèles, dans la gamme 2600, afin de répondre à vos spécifications en matière de tension et de courant. Cliquez ici pour plus d’informations.

Gamme 2650A SourceMeter d’unités de source et de mesure (SMU) haute puissance
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Les unités d’alimentation de mesure haute puissance de la gamme 2650A SourceMeter peuvent être utilisées dans de nombreuses de configurations de test. Elle permet d’alimenter et de mesurer 3 kV ou 50 A pulsé jusqu’à 2 000 W ou 200 W DC. Son excellente capacité à faible courant permet des mesures de fuite de qualité exceptionnelle. Vous pouvez également utiliser Keithley TSP-Link® pour intégrer des configurations système avec les instruments SMU de moindre puissance de la gamme 2600B. Cliquez ici pour plus d’informations.

Configurations PCT

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Les configurations de traceurs de courbes paramétriques Keithley sont des solutions complètes destinées à la caractérisation des composants de Puissance , incluant des logiciels, des équipements de test, des câbles et des supports de test. Sept configurations différentes sont disponibles, chacune offrant à la fois un mode tracé en temps réel, permettant de contrôler rapidement les paramètres fondamentaux du composant, comme la tension de rupture, et un mode paramétrique complet pour l’extraction précise et détaillée des paramètres du composant.

Analyseur de paramètres 4200-SCS
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Les fonctionnalités d’unité d’alimentation et de mesure 200 V/1 A et 400 V C-V de l’analyseur de paramètres 4200-SCS sont idéales pour la caractérisation des composants semi-conducteurs. Configurez le modèle 4200-SCS avec des instruments de source et de mesure (SMU) haute puissance 2650A SourceMeter pour tester jusqu’à 3 kV ou 50 A. Créez et exécutez des tests sur cette large gamme de fonctionnalités proposées par la gamme de produits Keithley avec le logiciel ACS Basic Edition. Cliquez ici pour plus d’informations.

Systèmes de test intégrés S500
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Découvrez les solutions complètes, clé en main, de la gamme de systèmes de test intégrés S500 de Keithley. Ces systèmes hautement configurables peuvent intégrer une large palette de fonctionnalités de mesure, destinées aux systèmes de tests sur les technologies semi -conducteurs. Vous pouvez également utiliser les fonctions d’automatisation du logiciel ACS avec les systèmes S500, pour effectuer des tests à haute vitesse sur plusieurs composants avec des machines de test sous pointes automatisées. Cliquez ici pour plus d’informations.

 

Fiche techniqueAccessoireDescription
ACS-2600-RTM OPTION DE FIABILITÉ DE TEST POUR ACS
ACS Basic Software Reference Manual The ACS Basic Reference Manual includes advanced operation topics, information regarding support…The ACS Basic Reference Manual includes advanced operation topics, information regarding support for Keithley's source and measure instrument products, and in-depth descriptions of programming commands.
Référence produit\_: ACSBASIC-901-01G
Primary User
ACS Software Quick Start Guide The ACS Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic…The ACS Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic operation and hardware information, and how to perform a test.
Référence produit\_: ACS-903-01E
Primary User
ACS Software Reference Manual The ACS Reference Manual includes advanced topics, information regarding support for Keithley's…The ACS Reference Manual includes advanced topics, information regarding support for Keithley's source and measure instrument products, and in-depth descriptions of programming commands. 
Référence produit\_: ACS-901-01L
Primary User
ACS Basic Software Quick Start Guide The ACS Basic Quick Start Guide describes installation information, basic connections,…The ACS Basic Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic operation and hardware information, and how to perform a test. 
Référence produit\_: ACSBASIC-903-01C
Primary User
ACS Automated Characterization Suite Software

Numéro du document\_: 1KW-61545-0
Fiche technique
ACS Basic Edition Semiconductor Parametric Test Software for Component and Discrete Devices

Numéro du document\_: 1KW-2996-2
Fiche technique
ACS-2600 RTM User's Manual
ACS-2600 RTM USERS MANUAL
Référence produit\_: ACS2600RTM-900-01B
Primary User
VDS Ramp and HTRB Reliability Testing of High Power Semiconductor Devices
with Automated Characterization Suite (ACS) Software
Application Note 09 Nov 2018
ACS SOFTWARE VERSION 5.2.1 RELEASE NOTES
ACS Software version 5.2.1 Release Notes
Référence produit\_: PA-1008K
User
Cost Effective Semiconductor Lab Automation
Technical Article 08 Aug 2017
Evolving Semiconductor Characterization and Parametric Test Solutions for the Evolving Semiconductor Industry (also Applicable to Series 2600B)
Whitepaper 08 Aug 2017
ACS Integrated Test System for Multi-Site Parallel Test
Application Note 08 Aug 2017
Testing High Power Semiconductor Devices from Inception to Market
Brochure 30 May 2017
Testing Power Semiconductor Devices with Keithley High Power System SourceMeter SMU Instruments
Application Note 05 Feb 2017
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
Increasing time to market and cost of test pressures means that test engineers must do more with less. Leveraging Keithley’s proven instrumentation and measurements, ACS integrated test systems fill an important gap between interactive laboratory-based…
Application Note 08 Aug 2016
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