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Garantissez des tests MOSFET Si, SiC et GaN sûrs, précis et rapides, dans les environnements de laboratoire et de test sur wafer. Découvrez les problématiques en matière de test découlant de l’adoption des matériaux SiC et GaN dans les conceptions actuelles, et apprenez comment y faire face. Découvrez comment réduire la consommation d’énergie et optimiser la durée de vie de la batterie sur vos produits finis. Réduisez le délai de mise sur le marché de vos conceptions.
Caractérisation des dispositifs d’alimentation
- Des tests MOSFET sûrs, précis et rapides pour les dispositifs Si, SiC et GaN
- Large enveloppe de puissance
- Configurez vos tests de façon sécurisée.
- Diminuez de moitié la durée de caractérisation de vos périphériques, pour une mise sur le marché améliorée.
- Évitez une conception trop ambitieuse et coûteuse de votre composant à large bande interdite
Test paramétrique automatisé
- Test forte tension entièrement automatisé au niveau wafer
- Naviguez entre les tests haute tension et les tests basse tension sans changer de configuration de test.
- Mesurez la capacité sans avoir à effectuer de reconfiguration manuelle. Automatisation rapide
Réduisez le délai de mise sur le marché pour vos conceptions de conversion de puissance.
- Gérez les hautes tensions de mode commun.
- Mesurez simultanément plusieurs signaux de contrôle et de temporisation.
- Mesures automatiques de puissance plus rapides
- Ne ratez pas votre mise en conformité.
Optimisation de la durée de vie des batteries sur les appareils IoT
- Déterminez le profil de courant de charge.
- Simulez n’importe quel type de batterie.
- Modélisez n’importe quel type de batterie.
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