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Système multimètre/acquisition de données/commutation DAQ6510
Offrant un niveau de simplicité inégalé, le DAQ6510 dispose d’une interface utilisateur tactile qui permet de diminuer le temps de connexion, de contrôler en temps réel le statut du test et d’effectuer une analyse détaillée des données sur l’instrument.
80
Jusqu’à 15
12
100 nV
10 pA
1 µOhm
1 million d’échantillons/s
16 bits
Gagnez du temps de configuration, d’exécution et d’analyse.
Paramétrez et exécutez facilement et rapidement un test, sans écrire un programme de test. Le système multimètre/acquisition de données/commutation DAQ6510 est équipé d’un écran tactile qui offre des configurations de tests visuelles et intuitives pour un paramétrage simplifié. Avec la visualisation du statut du balayage en temps réel, il est possible de détecter les problèmes précocement afin de réduire le temps de test. Le système facilite également l’analyse des données de test.
Points forts
- Configuration : paramétrez un balayage multi-voie avec plusieurs fonctions de mesure en utilisant un seul menu de configuration pour la mesure et le balayage.
- Exécution et surveillance : affichez à l’écran la progression du balayage en cours de test afin d’identifier instantanément les mesures hors plage et hors des limites de test.
- Analyse : affichez et analysez les résultats à l’aide des fonctions de tracé et statistiques. Utilisez la fonction zoom avec deux doigts pour étudier en détail les résultats. Utilisez les curseurs pour effectuer des calculs statistiques sur des segments de données.
Effectuez des mesures complémentaires.
Le DAQ6510 est conçu pour effectuer des mesures avec une résolution de 6,5 digits et dispose de 15 fonctions de mesure intégrées. Effectuez des mesures de courants faibles, de résistances de faible valeur et de température et observez les signaux transitoires grâce au numériseur intégré.
Points forts
- Tension : 100 nV à 1 000 V avec une précision C.C. de base de 0,0025 %
- Courant : 10 pA à 3 A
- Résistance : 1 µΩ à 120 MΩ
- Capacité : 0,1 pF à 100 µF
- Mesure de température avec des thermocouples, des détecteurs de température à résistances et des thermistances de -200 °C à 1 820 °C
- Numériseur 16 bits, 1 million d'échantillons/s avec un stockage de 7 millions de mesures
- Bénéficiez d’options supplémentaires pour les systèmes de test en ajoutant 12 modules de commutation enfichables et jusqu’à 80 voies.
Transmettez et enregistrez des données pour sécuriser leur visualisation sur le Cloud
Vous pouvez désormais transmettre des données à partir de votre système DAQ6510 et créer des tableaux de bord IoT en temps réel et des visualisations de données accessibles partout.
Points forts
- Surveillez et enregistrez les flux de données directement depuis le système DAQ6510 en temps réel et de partout (inutile de disposer d'un PC).
- Recevez des alertes par courrier électronique et par SMS avec des déclencheurs basés sur des seuils de mesure et d'autres règles mathématiques.
- Accédez aux données actuelles et historiques, visualisez-les, archivez-les, partagez-les, transformez-les et analysez-les où que vous soyez (aucune installation n'est nécessaire).
- Créez des tableaux de bord pour la normalisation, la reproductibilité et la lisibilité.
- Superposez, dilatez dans le temps et comparez les ensembles de données de plusieurs tests.
Réduisez le temps de test
Recueillez un maximum de données le plus rapidement possible. Effectuez des mesures et commutez les voies plus rapidement, balayez un plus grand nombre de voies.
Points forts
- Effectuez des mesures sur des intervalles de temps très réduits, comme des cycles d’alimentation de 0,0005 ou 8,3 µs (10 µs) pour des lignes secteur à 60 Hz (50 Hz).
- Effectuez le balayage sur 800 voies par seconde grâce au module de commutation avec multiplexeur à semi-conducteurs enfichable.
- Balayez jusqu’à 80 voies à 2 pôles pour tester un nombre significatif d’appareils en une fois.
Connectez votre appareil testé rapidement et en toute fiabilité.
Avec des connecteurs D-sub référencés à la terre disponibles sur de nombreux modules de commutation enfichables du DAQ6510, votre efficacité est optimale avant même d’avoir lancé le test. Vous réduisez ainsi la durée des temps d’arrêt lorsqu’il est nécessaire de changer les modules de commutation enfichables lors de l’entretien ou pendant l’installation d’un nouveau système de test.
Un ensemble complet d’options d’interfaçage est à votre disposition.
Les interfaces standard LAN, LXI et USB facilitent l’intégration à votre système de test. Les interfaces RS-232 et GPIB, installables sur le terrain et proposées en option comprennent six ports I/O numériques pour une synchronisation et une communication instrument vers instrument directes. Le DAQ6510 fonctionnera facilement avec l’interface pour ordinateur de votre choix.
Une automatisation rapidement mise en place sur ordinateur avec l’application KickStart Data Acquisition
Utilisez le logiciel KickStart Instrument Control pour programmer rapidement un test d’acquisition de données sur un ordinateur. Aucune programmation n’est nécessaire avec le logiciel, il suffit de renseigner une configuration de test dans les écrans de menus. Visualisez ensuite vos résultats dans un format tabulaire ou graphique.
| Modèle | Voies | Modules de commutation enfichables | Numériseur | Tarif |
|---|---|---|---|---|
| DAQ6510 | Jusqu’à 80 |
12 options |
1 million d’échantillons/s |
US $2,000 Configuration et devis |
| DAQ6510/7700 | 20 |
1 |
1 million d’échantillons/s |
US $2,540 Configuration et devis |
| Modèle | Voies | Modules de commutation enfichables | Numériseur | Tarif |
|---|---|---|---|---|
| DAQ6510 | Jusqu’à 80 |
12 options |
1 million d’échantillons/s |
US $2,000 Configuration et devis |
| DAQ6510/7700 | 20 |
1 |
1 million d’échantillons/s |
US $2,540 Configuration et devis |
Effectuez des tests environnementaux et de durée de vie accélérée en toute confiance.
Configurez rapidement un test à partir d’un nombre significatif d’appareils grâce à l’écran tactile. Surveillez le statut du test en cours d’exécution. Affichez les données sous forme graphique ou tabulaire sur l’écran tactile.
Points forts
- Testez jusqu’à 80 appareils avec une configuration en utilisant une seule unité centrale DAQ6510.
- Ajoutez des voies si nécessaire en utilisant l’interface TSP-Link® pour connecter et contrôler plusieurs unités centrales DAQ6510.
- Surveillez la température évoluant entre -200 ⁰ C et 1 820 ⁰ C avec l’un des 8 types de thermocouples, 5 thermomètres à résistance ou 3 thermistances.
- Définissez des limites et des voies critiques à surveiller en cours de test pour être immédiatement informé de l’apparition d’un problème.
- Enregistrez les données de test sur une clé USB ou un ordinateur pour éviter toute perte préjudiciable.
- Programmez le DAQ6510 pour qu’il redémarre suite à une coupure de courant afin de minimiser les temps d’arrêt durant les nuits et les weekends.
Testez des résistances de très faible valeur à moindre coût.
Testez des composants tels que des câbles, des résistances de faible valeur et des connecteurs précisément et en toute fiabilité avec le DAQ6510.
Points forts
- Effectuez des mesures avec une sensibilité de 1 µΩ.
- Utilisez la fonction résistance en 4 fils afin de supprimer l’erreur associée au cordon de test.
- Utiliser la compensation de décalage afin de supprimer l’erreur de contact thermique.
Augmentez la capacité de test et le débit en fabrication.
<p>Utilisez le DAQ6510 pour augmenter le nombre d'appareils avec un seul système de test et maximiser la capacité de test. Tirez parti des temps de mesure réduits et de la fréquence de balayage plus élevée du DAQ6510.
Points forts
- Augmentez la capacité du système de test jusqu’à 80 appareils par système.
- Effectuez des mesures plus rapidement grâce à une durée du cycle d’alimentation de 0,0005.
- Utilisez la carte de relais à semi-conducteurs pour la fabrication de volumes importants et effectuez le balayage des circuits testés à un débit de 800 voies/s.
- Confiez l’exécution et le contrôle d’un test au programme d’exécution interne TSP du DAQ6510 pour minimiser les temps de communication avec un ordinateur.
| Fiche technique | Module | Description | Configuration et devis |
|---|---|---|---|
| Afficher la fiche technique | 7700 | MULTIPLEXEUR 20 VOIES | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7701 | MULTIPLEXEUR DIFFÉRENTIEL 32 VOIES | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7702 | MULTIPLEXEUR DIFFÉRENTIEL 40 VOIES AVEC SC | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7703 | MULTIPLEXEUR DIFFÉRENTIEL HAUTE VITESSE 32 VOIES | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7705 | MODULE DE CONTRÔLE 40 VOIES | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7706 | MODULE D’I/O TOUT-EN-UN | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7707 | MODULE D’I/O POUR MULTIPLEXEUR NUMÉRIQUE AVEC 25 BROCHES | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7708 | MODULE MULTIPLEXEUR DIFFÉRENTIEL 40 VOIES | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7709 | MODULE DE MATRICE 6 X 8 AVEC 25 ET 50 BROCHES F | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7710 | CÂBLE DE MULTIPLEXEUR À SEMI-CONDUCTEURS 20 VOIES 60 V | Configuration et devis |
| Afficher la fiche technique | 7711 | CARTE DE MULTIPLEXEUR 50 OHMS, 2 GHZ, DOUBLE 1X4 | Configuration et devis |
Accessoires fournis
- USB-B-1 — Câble USB, Type A vers Type B, 1 m (3,3 pieds) Certificat d’étalonnage avec traçabilité Garantie trois ans
I/O numériques programmables et interfaces en option
- KTTI-RS232 — Accessoire I/O numérique et de communication RS-232, installation par l’utilisateur
- KTTI-GPIB — Accessoire I/O numérique et de communication GPIB, installation par l’utilisateur
- KTTI-TSP — Accessoire I/O numérique et de communication TSP-Link, installation par l’utilisateur
Accessoires disponibles
Cordons et sondes de test
- 1752 — Kit de cordons de test de sécurité premium
- 1756 — Kit de cordons de test à usage général
- 8610 — Prise de court-circuitage pour isolation thermique
Interfaces de communication et câbles pour ordinateur
- KPCI-488LPA — Interface IEEE-488 pour bus PCI
- KUSB-488B — Adaptateur d’interface USB vers GPIB IEEE-488
- 174694600 — Câble croisé CAT5 pour TSP-Link/Ethernet
- 7007 — Câble GPIB blindé
Adaptateur
- DB9-MM — Connecteur mâle-mâle D-sub à 9 broches pour options d’interface
Déclenchement et contrôle
- 8503 — Câble de déclenchement DIN vers BNC
Fusibles de rechange
- FU-99-1 — Fusible d’entrée pur courant, 3 A, 250 V, réaction rapide, 5 x 20 mm
- FU-106-1.25 — Fusible d’entrée principal, 1,25 A, 250 V, Slo-Blo
Services disponibles
Extensions de garantie
- DAQ6510-EW — 3 ans de garantie fabricant étendus à 4 ans à compter de la date d'expédition
- DAQ6510-5Y-EW — 3 ans de garantie fabricant étendus à 5 ans à compter de la date d’expédition
- Pour consulter les garanties proposées pour les modules enfichables, reportez-vous à leurs fiches techniques
Contrats d’étalonnage
- C/DAQ6510-3Y-DATA KeithleyCare — Étalonnage pendant 3 ans avec données
- C/DAQ6510-5Y-DATA KeithleyCare — Étalonnage pendant 5 ans avec données
- C/DAQ6510-3Y-STD KeithleyCare — Contrat d’étalonnage standard sur 3 ans
- C/DAQ6510-5Y-STD KeithleyCare — Contrat d'étalonnage standard sur 5 ans
Contrôlez vos instruments depuis votre PC
Stimulez l'innovation grâce à des tests et des mesures plus rapides avec le logiciel KickStart. Le logiciel de contrôle d'instrument KickStart pour PC permet de rapidement configurer les tests, exécuter le texte et visualiser les données. Grâce au traçage immédiat des données et à la génération de brefs résumés statistiques sur les données dans la table de lecture, KickStart permet de recueillir les informations plus rapidement et de prendre les bonnes décisions.
- Exécution de tests sur plusieurs types d'instruments de banc, de manière indépendante ou simultanée
- Exportation automatique des données pour journalisation à long terme
- Reproduction rapide des tests grâce à l'enregistrement de la configuration de test
- Recours à des outils intégrés de tracé, de comparaison et de statistiques permettant de discerner rapidement les anomalies et tendances des mesures
- Configuration de tests à l’aide d’instruments simulés et basculement sur de véritables instruments lorsqu’ils sont disponibles