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Logiciel de caractérisation Keithley ACS (Automated Characterization Suite)

Automated Characterization Suite (ACS) de Keithley est un environnement de test logiciel interactif et polyvalent, conçu pour la caractérisation des composants, les tests paramétriques, les tests de fiabilité et même les tests fonctionnels simples. Le logiciel ACS prend en charge une large gamme d'instruments, de systèmes, de configurations de matériel et de test Keithley, que ce soit pour un petit nombre d'instruments utilisés dans un laboratoire de contrôle qualité ou pour des systèmes de test entièrement intégrés et automatiques sur rack. Avec ACS, les utilisateurs sont en mesure d'effectuer rapidement des tests, même s'ils ne maîtrisent pas la programmation.

 

keithley-logo

 

Prix de base
US $450 - US $29,000
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Flexibilité avec les préférences de programmation pour les applications de caractérisation

Le logiciel ACS est pourvu de Script Editor, un outil indépendant avec une interface utilisateur graphique qui permet de développer du code Python et des scripts TSP® pour le contrôle d'instruments, l'analyse de données et l'automatisation de systèmes. Il permet de créer et de développer de manière intuitive des interfaces utilisateur graphiques ainsi que de gérer des modules et des bibliothèques utilisateur.

Automatisez vos processus de recueil de données

L'option d'automatisation de la station de probing du wafer pour ACS permet d'interfacer facilement les différentes stations de probing de wafers semi ou entièrement automatiques de votre configuration de test en vue de capturer rapidement un plus grand nombre de données. Cette option comprend un utilitaire de description du wafer, des cartes du wafer en temps réel avec possibilité de tri par bin, un utilitaire de planification de l'échantillonnage de la cassette, un utilitaire de vérification de la cassette et du wafer après test. Nombre d'outils et fonctions d'ACS facilitent la caractérisation automatique des circuits.

Partagez des projets et résultats de test

Le logiciel ACS fournit un ensemble d'éléments essentiels qui fonctionnent avec un grand nombre de configurations matérielles en vue de gagner du temps et d'améliorer la productivité. Les systèmes fonctionnent de manière cohérente d'une implémentation matérielle à l'autre, donc il est par exemple facile de transférer vos connaissances d'un système basé sur ACS utilisé pour la caractérisation d'un unique composant à un autre conçu pour le test au niveau du wafer.

Maximisez la productivité de votre matériel Keithley

Les outils disponibles dans ACS simplifient le développement de test et maximisent la vitesse de chacun des instruments Keithley reliés au système. Associés, les instruments basés sur TSP ACS et Keithley offrent le meilleur débit du marché. Ils permettent donc de réduire le coût du test, sans vous contraindre à apprendre de nouveaux concepts ou langages de programmation avant d'obtenir les données nécessaires à la réalisation de vos objectifs.

Instruments pris en charge

Type d’instrument Modèle Édition du logiciel ACS
Unités SMU Série 2600B : 2601B, 2602B, 2604B, 2611B, 2612B, 2614B, 2634B ,2635B, 2636B
Série 2600A : 2601A, 2602A ,2611A, 2612A, 2635A, 2636A
Série 2400 à écran tactile graphique : 2450, 2460, 2460-NFP, 2460-NFP-RACK, 2460-RACK, 2461, 2461-SYS, 2470
Série 2400 standard : 2401, 2410, 2420, 2430, 2440
2606B haute densité : 2606B
Série 2650 haute puissance : 2651A, 2657A
ACS Basic
ACS Standard
Analyseurs paramétriques 4200A ACS Basic
ACS Standard
Multimètres numériques DMM7510, Série 2010 ACS Basic
ACS Standard
Matrices de commutation HVM1212A ACS Basic
ACS Standard
Systèmes de commutation 707A/B, 708A/B, 3700A ACS Basic
ACS Standard
Générateurs d'impulsions Série 3400 ACS Basic
ACS Standard
Probers TEL P8/P12, TEL T78S/80S, ACCRETECH (Tokyo Semitsu) TSK9/UF200/UF3000/APM60/70/80/90, MPI SENTIO TS2000/TS2000-SE/TS2000-HP/TS3000, FormFactor (Cascade) Summit 12000, FormFactor (Cascade) S300, Suss MicroTec PA200/Cascade CM300, Electroglas EG2X/EG4X, Wentworth Pegasus 300S, Signatone CM500, Yang Sagi3, Micromanipulator P300A ACS Standard

Remarques :

  1. ITM prend en charge les instruments TTI 24xx, les instruments 26xx et les cas d'utilisation mixte.
  2. L'utilisateur peut contrôler n'importe quel instrument TSP à l'aide d'un script STM. Les bibliothèques STM ACS existantes prennent en charge des instruments spécifiques en fonction de définition de la bibliothèque.
  3. L'utilisateur peut contrôler n'importe quel instrument TSP à l'aide d'un script PTM. Les bibliothèques ACS PTM existantes prennent en charge des instruments spécifiques en fonction de la définition de la bibliothèque.

À propos du logiciel Tektronix

Modèle Product Description Type Tarif
ACS-BASICFL-UP ACS Basic Edition Licence de maintenance annuelle pour étendre la prise en charge de la licence flottante perpétuelle Abonnement US $450
Configuration et devis
ACS-STANDARDFL-UP ACS Standard Edition Licence de maintenance annuelle pour étendre la prise en charge de la licence flottante perpétuelle Abonnement US $2,700
Configuration et devis
ACS-BASICFL ACS Basic Edition Logiciel de commande d’instrument ACS Basic Edition ; licence flottante perpétuelle Perpétuelle US $2,900
Configuration et devis
ACS-WLRFL-UP ACS Wafer Level Reliability Edition Licence de maintenance annuelle pour étendre la prise en charge de la licence flottante perpétuelle Abonnement US $4,400
Configuration et devis
ACS-STANDARDFL ACS Standard Edition Logiciel de commande d’instrument ACS Standard Edition ; licence flottante perpétuelle Perpétuelle US $18,000
Configuration et devis
ACS-WLRFL ACS Wafer Level Reliability Edition Logiciel ACS Wafer Level Reliability Edition ; licence flottante perpétuelle Perpétuelle US $29,000
Configuration et devis

Applications du laboratoire à la chaîne de fabrication

Les systèmes de test intégrés basés sur le logiciel ACS sont des solutions complètes pour des applications telles que le tri paramétrique de puces, la caractérisation de composants à semi-conducteurs de puissance et le test de fiabilité au niveau du wafer. Leur association avec des stations de probing entièrement automatisées permet d'optimiser facilement les configurations matérielles et le développement de test pour des tâches spécifiques.

Test de semi-conducteurs de puissance avec les instruments SMU haute puissance de Keithley et le logiciel ACS Basic Edition (Notes d'application)

Système de test intégré ACS pour test parallèle multi-site (Notes d'application)

Séquencement d'alimentation pour la caractérisation I-V des circuits HEMT GaN

En raison de leur caractéristique « normalement activé », les circuits HEMT GaN requièrent une séquence d'alimentation spécifique pour leur caractérisation I-V. Le logiciel ACS prend en charge le séquencement d'alimentation pour la caractérisation d'un circuit HEMT GaN sans nuire à la capture de ses caractéristiques I-V intrinsèques.

Note d'application sur le séquencement d'alimentation pour la caractérisation des circuits HEMT GaN

Au service des applications dans l'environnement des semi-conducteurs

Les éditions ACS Basic et ACS Standard du logiciel ACS sont utilisées dans le secteur des semi-conducteurs afin d’effectuer une large palette de tests qui fourniront une caractérisation détaillée des composants à semi-conducteurs. Les systèmes de test intégrés ACS Basic et ACS Standard permettent :

  • Le test au niveau du composant, du site, du wafer et de la cassette.
  • Des configurations flexibles, une personnalisation du logiciel et des applications.
  • Un fonctionnement du système interactif et automatisé.
  • Une association performante d'une interface utilisateur graphique et d'outils de génération de scripts pour le développement de modules de test.
Serving Applications Across the Semiconductor Workflow

Phase de développement

Le logiciel ACS Basic Edition est optimisé pour effectuer des tests paramétriques de composants et de circuits à semi-conducteurs discrets (en boîtier). Il maximise la productivité des techniciens et ingénieurs de recherche et développement grâce aux fonctionnalités suivantes :

  • Conçu pour les composants en boîtier (MOSFET, BJT, IGBT, diodes, résistances, etc.).
  • Une vaste gamme de bibliothèques de test, une configuration et une exécution faciles des test sans programmation.
  • Des outils d'analyse des données intégrés pour analyser rapidement les données paramétriques.
  • Prise en charge des instruments SMU SourceMeter Keithley séries 2600B (sauf 2604B, 2614B ou 2634B), 2400, 2651A et 2657A

Phase d'intégration

L'édition ACS Standard du logiciel est utilisée lors de la phase d'intégration pour le test semi-automatique des wafers, notamment afin de développer des processus robustes et d'effectuer des tests de fiabilité au niveau du wafer (Wafer Level Reliability ou WLR). Ce logiciel peut être utilisé pour le test au niveau système avec un SMU par broche. Le logiciel ACS WLR présente les avantages suivants :

  • Des capacités de test entièrement automatisées afin de tester individuellement les wafers ou une cassette entière.
  • Un logiciel pour une configuration de test flexible et exécuter des tests en parallèle.
  • Conformité du module pour test de fiabilité (Reliability Test Module ou RTM) aux méthodologies de test standard JEDEC.
  • Prise en charge de la création d'un module ou de procédures de test personnalisés.

Phase de production

Le logiciel ACS Standard Edition est également utilisé sur des systèmes de test personnalisés en rack entièrement intégrés et automatisés pour la surveillance des processus (PCM), les tests d'acceptation Wafer (WAT) et le tri des matrices. Nombre d'outils et fonctions du logiciel ACS Standard facilitent la caractérisation automatique des circuits :

  • Automatisation au niveau des wafers et de la cassette.
  • Carte de test pour associer les circuits et les tests aux sites et sous-sites.
  • Mode de contrôle interactif de la station de probing.
  • Enregistrement des données Keithley unique ou par wafer.