Systèmes de test paramétrique Keithley

Les systèmes de test paramétrique S530 ont été conçus pour les environnements de production et de laboratoire devant prendre en charge une large palette de composants et de technologies. Ils offrent les meilleures performances du marché en termes de gestion des données de test, d’intégration aux stations sous pointes, d’automatisation et de flexibilité des plans de test. La société Keithley est forte de plus de 30 ans d’expérience et d’expertise dans le domaine des testeurs paramétriques, personnalisés aussi bien que standard, destinés aux clients du monde entier pour la conception des solutions de test.

Le système de test de réception des plaques multi-site S535 est une solution haute puissance et haute résolution au niveau des plaques pour tester les périphérique analogiques, d’alimentation, à signaux mixtes et discrets dans différentes applications du workflow industriel. Contrairement aux systèmes de tests parallèles asynchrones qui testent plusieurs périphériques à la fois sur un site, les méthodes de test parallèle du S535 permettent de tester plusieurs périphérique à la fois sur plusieurs sites. L’indice de temps de test est ainsi réduit de moitié, augmentant la productivité usine et diminuant le coût des tests.

Le système de test paramétrique 540 est un système à 48 broches entièrement automatisé conçu pour tester au niveau de la plaque des composants semi-conducteurs de puissance et des structures jusqu’à 3 kV. Optimisé pour les matériaux semi-conducteurs les plus récents, tels que le carbure de silicium (SiC) et le nitrure de gallium (GaN), le système S540 entièrement intégré est capable d’effectuer tous les tests de capacité, haute tension et basse tension en un seul contact.

Les systèmes de test intégrés S500 sont des solutions hautement configurables, basées sur des instruments, et destinées à la caractérisation des semi-conducteurs au niveau du composant, de la plaque ou de la cassette. Conçus sur la base de notre instrumentation éprouvée, les systèmes de test intégrés S500 proposent des mesures novatrices et une grande flexibilité, afin de s’adapter à vos besoins. Leurs fonctionnalités de mesure uniques, associées au logiciel ACS (Automated Characterization Suite), puissant et polyvalent, offrent une palette complète d’applications et de fonctionnalités que les autres systèmes similaires du marché ne proposent pas. 

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Keithley Parametric Test Systems

Caractéristiques du système S530

  • Rapidement adaptable aux nouveaux composants et besoins en matière de test.
  • Développement des plans de test rapide, flexible et interactif.
  • Compatible avec les stations de probing tout automatique les plus populaires.
  • Options pour les mesures basse tension, la mesure de fréquence, la génération de pulse 1 kV et C-V.
  • Compatible avec l’adaptateur de carte à sondes Keithley 9139A.
  • Prend en charge la réutilisation des bibliothèques de cartes à sondes cinq pouces existantes.
  • Instrumentation utilisant une technologie éprouvée, qui garantit une précision et une répétabilité élevées des mesures, aussi bien en laboratoire qu’en usine.

Caractéristiques du système S535

  • Effectuez automatiquement des tests paramétriques DC de façon parallèle sur plusieurs sites ou en série. Testez deux ou quatre sites en un seul contact.
  • Jusqu’à 64 broches de test : Quatre sites de test en parallèle, 16 broches par site ; deux sites de test en parallèle, 32 broches par site ; un seul site, en série, 64 broches
  • Fonctionnel jusqu’à 100 W : 100 V à 1 A, 200 V à 100 mA
  • Environnement de test entièrement automatisé multibroche, 1 fA, avec résolution de 10 nV à haute vitesse
  • Logiciel Linux KTE (Keithley Test Environment, environnement de test Keithley), pour une compatibilité avec les anciens systèmes de test Keithley, un développement facile des tests et une exécution rapide.
  • L’infrastructure de carte à sondes (similaire au Keithley S530) prend également en charge les anciennes applications S400

Caractéristiques du système S540

  • Exécute automatiquement les tests paramétriques au niveau du wafer, jusqu’à 48 broches, notamment tension de rupture haute tension, la capacité et les mesures à basse tension, dans un format à sonde unique, sans avoir à changer de câbles ni d’infrastructure de carte à sondes.
  • Effectue les mesures de capacité du transistor en entrée (Ciss), sortie (Coss) et transfert en inverse (Crss) jusqu’à 3 kV, sans reconfiguration manuelle des broches de test.
  • Effectue des mesures performantes à bas niveau, dans un environnement de test haute vitesse, multi-broches et entièrement automatisé.
  • Logiciel Linux KTE (Keithley Test Environment, environnement de test Keithley), permettant un développement facile des tests et une exécution rapide.
  • Idéal pour les applications entièrement ou semi-automatiques, en matière d’intégration des procédés, de contrôle des procédés et de tri des puces en production.
  • Réduit le coût de possession en minimisant la durée des tests, le temps de configuration des tests et l’encombrement des équipements, tout en garantissant des performances de mesure de qualité laboratoire.

Caractéristiques du système S500

  • Gamme complète de spécifications d’unité de source et de mesure (SMU), avec notamment des mesures inférieures au fA, qui garantit une large palette de mesures sur quasiment n’importe quel composant.
  • Génération de pulse et I-V ultra-rapide pour la caractérisation de mémoires, le pompage de charge, la mesure en impulsion I/V à impulsion unique (analyse des pièges de charge) et les balayages d’impulsions (pour éviter l’échauffement).
  • Systèmes à nombre de voies faible ou élevé, incluant des tests en parallèle, compatible avec les systèmes Keithley et les unités SMU évolutives.
  • Instruments de source et de mesure haute tension, fort courant et forte puissance permettant de tester des composants tels que les MOSFET et les circuits de gestion d’écrans.
  • Connectivité avec l’équipement à tester assurée par les éléments de commutation, les cartes à sondes et le câblage.