Sources de courant de précision à faible bruit résiduel DC et AC + DC de Keithley

Sources de courant de précision à faible bruit résiduel DC et AC + DC de Keithley

La source de courant continu 6220 et la source de courant alternatif et continu 6221 associent la facilité d’utilisation à un bruit résiduel de courant exceptionnellement faible. Une source de courant faible est essentielle pour les applications dans les environnements de test allant de la R&D à la production, en particulier dans les industries des semi-conducteurs, des nanotechnologies et des supraconducteurs. Grâce à leur précision de source élevée et à leurs fonctions de contrôle intégrées, les modèles 6220 et 6221 sont parfaitement adaptés aux applications telles que les mesures Hall, les mesures de résistance utilisant le mode delta, les mesures de pulse et les mesures de conductance différentielle.

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Sources d’intensité ultra sensibles série 6200 de Keithley

Caractéristiques

Gains

Impédance de sortie de 10 14  Ω Assure une source de courant stable dans les charges avec une large gamme d’impédances de sortie.
Mémoire source de 65 000 points Permet d’exécuter des balayages de courants d’essai complets directement à partir de la source de courant.
Conformité de la tension de sortie de 0,1 V à 105 V par échelons de 10 mV Évite les dommages potentiels aux composants susceptibles de subir une surtension.
Fournit des courants AC de 4 pA à 210 mA crête à crête (6221) Permet la caractérisation AC des composants et des matériaux.
Fréquence de mise à jour de sortie de 10 MHz (6221) Génère des ondes sinusoïdales régulières jusqu’à 100 kHz.
Générateurs de formes d’ondes standard et arbitraires intégrés avec gamme de fréquence de 1 mHz à 100 kHz (6221) Permet l’utilisation de l’appareil en tant que charge programmable complexe ou signal de capteur et pour l’émulation de bruit.
Largeurs de pulse programmables jusqu’à 5 μs (6221) Limite la dissipation d’énergie dans les composants fragiles de faible puissance et permet les mesures I-V pulsée jusqu’à 50 μs avec le nanovoltmètre modèle 2182A.
Sortie triax reconfigurable Simplifie l’adaptation aux exigences de protection de l’application.

Modèles

Modèle Courant Résistance Points de balayage Interface PC Générateur de forme d’onde interne Prix catalogue
6220 ± (100 fA – 100 mA)

10 nΩ à 200 MΩ (2182A requis)

65 536 (64 k) GPIB, RS-232 -
-
Configuration et devis
6221 ± (100 fA – 100 mA)

10 nΩ à 200 MΩ (2182A requis)

65 536 (64 k) GPIB, RS-232, Ethernet Fréquence de mise à jour de sortie de 1 mHz-100 kHz avec 10 M éch./s
-
Configuration et devis
Modèle 6220
Prix catalogue
-
CourantRésistancePoints de balayage
± (100 fA – 100 mA)

10 nΩ à 200 MΩ (2182A requis)

65 536 (64 k)
Interface PC
GPIB, RS-232
Modèle 6221
Prix catalogue
-
CourantRésistanceGénérateur de forme d’onde interne
± (100 fA – 100 mA)

10 nΩ à 200 MΩ (2182A requis)

Fréquence de mise à jour de sortie de 1 mHz-100 kHz avec 10 M éch./s
Points de balayageInterface PC
65 536 (64 k)GPIB, RS-232, Ethernet
Modèle Courant Résistance Points de balayage Interface PC Générateur de forme d’onde interne Prix catalogue
6220 ± (100 fA – 100 mA)

10 nΩ à 200 MΩ (2182A requis)

65 536 (64 k) GPIB, RS-232 -
-
Configuration et devis
6221 ± (100 fA – 100 mA)

10 nΩ à 200 MΩ (2182A requis)

65 536 (64 k) GPIB, RS-232, Ethernet Fréquence de mise à jour de sortie de 1 mHz-100 kHz avec 10 M éch./s
-
Configuration et devis
Modèle 6220
Prix catalogue
-
CourantRésistancePoints de balayage
± (100 fA – 100 mA)

10 nΩ à 200 MΩ (2182A requis)

65 536 (64 k)
Interface PC
GPIB, RS-232
Modèle 6221
Prix catalogue
-
CourantRésistanceGénérateur de forme d’onde interne
± (100 fA – 100 mA)

10 nΩ à 200 MΩ (2182A requis)

Fréquence de mise à jour de sortie de 1 mHz-100 kHz avec 10 M éch./s
Points de balayageInterface PC
65 536 (64 k)GPIB, RS-232, Ethernet
Fiche techniqueAccessoireDescription
2000-BENCHKIT KIT DE CONVERSION MULTI-MODÈLE POUR TABLE
237-ALG-15 CÂBLE TRIAXIAL À FAIBLE BRUIT, 15 M (50 FT)
237-ALG-2 CÂBLE TRIAXIAL À FAIBLE BRUIT
The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall Effect and van der Pauw measurements for calculating sample resistivity and mobility among other parameters as well as…
0h 31m 10s
Characterization of New Materials and Devices Nanotechnology, Printed and Bio Electronics, and Energy
0h 34m 2s
Model 6220 DC Current Source and Model 6221 AC and DC Current Source
Fiche technique
Model 6220 DC Current Source Model 6221 AC and DC Current Source Reference Manual
Reference Manual, Rev. C for the Model 6220 DC Current Source and the Model 6221 AC and DC Current Source
Référence produit\_: 622X-901-01C
User
Model 6220 DC Current Source Model 6221 AC and DC Current Source User's Manual
User's Manual, Rev. C for the Model 6220 DC Current Source and the Model 6221 AC and DC Current Source.
Référence produit\_: 622X-900-01C
Primary User
Keithley I/O Layer version C10 (Windows 10, 8, 7 Compatible)
Keithley I/O Layer version C10 (KIOL-850C10 adds support for Windows 10 Operating System and installs NI-VISA Runtime 17.5 and NI-ICP 17.0. This release replaces previous versions of KIOL-850B07, KIOL-850C02, KIOL-850C03, KIOL-850C04, KIOL-850C05, KIOL-…
Référence produit\_: KIOL-850C10
Application
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements
With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data…
Technical Article 11 Nov 2018
High Impedance Semiconductor Resistivity and Hall Effect Test Configurations
Brochure 11 Nov 2018
Install v2.7 of the Free Example Software for the Models 6220/6221.

Référence produit\_: 6220-EXMPL-2.7
Application
Keithley I/O Layer - version C07 (Windows 8, 7, Vista, and XP Compatible)

Référence produit\_: KIOL-850C07
Application
Keithley Instruments Safety Precautions Safety Precautions PA
This document contains safety information for Keithley Instruments products.
Référence produit\_: 071341102
User
622x Native LabView 2009 Driver version 1.0.0 - Project Style

Référence produit\_: 622X-LV-1.0.0
Driver
Flashwizard version C12 (Windows 7, Vista, XP, Win2K, NT, ME, 98 Compatible)

Référence produit\_: FLASH-WIZARD-C12
Firmware
6220/6221 IVI Driver for Visual Basic (VB), VC/C++, Labview (LV) and LabWindows CVI, Rev. B01.1 (6.4Mb) - Requires Installation of Keithley I/O Layer (KIOL-850)

Référence produit\_: 622X-855B011
Driver
6220/6221 Firmware Revision A05

Référence produit\_: 6221-801A05
Firmware
6220/6221 Firmware revision A04

Référence produit\_: 6221-801A04
Firmware
6220/6221 Firmware Revision D03

Référence produit\_: 6221-801D03
Firmware
New Materials and Devices E-Guide
Brochure 08 Aug 2017
Problem: Noisy Readings in Low Resistance Measurements
The most common cause of noisy low resistance measurement is magnetic interference.
Technical Article 08 Aug 2017
Guide to Measuring New Materials and Devices
Handbook 08 Aug 2017
Optimizing Low-Current Measurements and Instruments
Whitepaper 08 Aug 2017
Problem: Reading Drift in Low Resistance Measurements
Thermoelectric voltages are the most common cause of reading drift in low resistance measurements. They are caused by differences in temperature between different parts of the measurement circuit
Technical Article 08 Aug 2017
Téléchargements
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