Analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS

Analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS

Accélérez la recherche et les études de fiabilité et d’analyse des défauts des composants semiconducteurs, des matériaux et des processus grâce à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS. Analyseur paramétrique de très hautes performances, il permet des mesures synchronisées courant-tension (I-V), capacité-tension (C-V) et les mesures I-V en impulsions ultrarapides.

Essayez-le GRATUITEMENT sur votre PC.

4200-promo-options

Gamme de courant-tension
(I-V) DC

10 aA - 1 A
0,2 µV - 210 V

Plage de capacité-tension
(C-V)

Polarisation 1 kHz - 10 MHz
±30 V DC

Gamme I-V
en impulsion

±40 V (80 V p-p), ±800 mA
fréquence d’échantillonnage 200 Méch./s, 5 ns

 

Aperçu rapide et clair des paramètres.

Front view of 4200A-SCS and 4200A-CVIV performing a CV sweep

Accéder à de grandes découvertes, ou de belles innovations, n’a jamais été aussi facile. L’analyseur de paramètres 4200A-SCS élimine jusqu’à 50 % de la complexité des opérations de caractérisation et de configuration de test, offrant des capacités de mesure et d’analyse claires et sans compromis. De plus, l’expertise de mesure intégrée, une première sur le marché, vous guide dans les tests et vous garantit une confiance totale dans vos résultats.

Points forts

  • Possibilité d’insertion de vidéos (modes opératoires) en anglais, chinois, japonais et coréen
  • Lancez rapidement vos tests grâce à des centaines de modèles de tests modifiables
  • Extraction automatisée de paramètres, graphiques de données et fonctions arithmétiques en temps réel

Lancez la mesure. Changez de mesures. Répétez.

Keithley 4200A-CVIV multi-switch on a wafer probe station

Le multicommutateur 4200A-CVIV passe automatiquement des mesures I-V aux mesures C-V sans recâblage ni relevage des pointes de test. À l’inverse des produits concurrents, l’écran quatre voies du modèle 4200A-CVIV fournit un aperçu visuel de la mesure en cours pour pouvoir rapidement configurer les tests et facilement résoudre les problèmes en cas de résultats inattendus.

Points forts

  • Permet la mesure C-V sur n’importe quel port de test du composant sans recâblage
  • Configurable par l’utilisateur pour la fonction faible courant
  • Personnalisez le nom des voies de sortie
  • Consultez l’état des tests en temps réel

Mesures de courant faible stables pour la caractérisation I-V

Avec les modules 4201-SMU et 4211-SMU, vous pouvez effectuer des mesures de courants faibles stables dans un système à capacité élevée. Les quatre modèles d'unités de source et de mesure (SMU) au choix permettent de personnaliser le 4200A-SCS pour qu'il réponde à tous vos besoins en matière de mesure I-V. Grâce aux unités qui peuvent être installées sur le terrain et aux modules préamplificateurs optionnels, Keithley vous garantit de pouvoir effectuer les mesures de courant faible les plus précises sans ou avec un très court temps d'arrêt.

Points forts

  • Ajoutez un SMU sans renvoyer l'appareil en usine
  • Effectuez des mesures de l'ordre du femtoampère
  • Jusqu'à 9 voies SMU
  • Optimisé pour les grandes longueurs de câble ou les grandes pointes

Solution intégrée avec sondes analytiques et commandes cryogéniques.

Keithley 4200A-SCS parameter analyzer in front of wafer probe station

L’analyseur de paramètres 4200A-SCS est compatible avec de nombreux testeurs sous pointes pour wafer et régulateurs thermiques cryogéniques manuels et semi-automatiques, tels que les MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Modèle 336.

Points forts

  • Fonction de séquencement de test « pointer-cliquer »
  • Le mode « manuel » permet de tester le fonctionnement du prober
  • Le mode simulation de sonde permet de résoudre les problèmes sans modifier les commandes

Réduisez les coûts et protégez votre investissement.

Protégez votre investissement avec un programme Keithley Care.

Les contrats Keithley Care offrent des services rapides et de grande qualité pour un coût nettement inférieur à ceux des réparations effectuées à la demande des clients. Un clic ou un appel suffisent pour prendre en charge la réparation : pas de devis, de bons de commandes ou de délai de validation.

En savoir plus

 

Fiche technique Modèle Description Offre de prix
Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PK1
IV haute résolution
Résolution 0,1 fA, 210 V/100 mA
Le package de caractérisation 4200A-SCS-PK1 pour les circuits à deux et trois terminaisons, MOSFET, CMOS comprend :
  • Analyseur de paramètres 4200A-SCS
  • (2) modules 4200-SMU
  • (1) préamplificateur 4200-PA
  • (1) accessoire de test 8101-PIV avec échantillons
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Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PK2
IV et CV haute résolution
Résolution 0,1 fA, 210 V/100 mA
Le package de caractérisation 4200A-SCS-PK2 pour les circuits à deux et trois terminaisons MOSFET et CMOS comprend :
  • Analyseur de paramètres 4200A-SCS
  • (2) modules 4200-SMU
  • (1) préamplificateur 4200-PA
  • (1) module capacité-tension 4210-CVU
  • (1) accessoire de test 8101-PIV avec échantillons
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Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PK3
IV et CV haute résolution et puissance
Résolution 0,1 fA, 210 V/1 A, 1 kHz à 10 MHz
Le package de caractérisation 4200A-SCS-PK3 pour les circuits de puissance, à constante diélectrique κ élevée et CMOS submicroniques comprend :
  • Analyseur de paramètres 4200A-SCS
  • (2) modules 4200-SMU
  • (2) 4210-SMU
  • (1) préamplificateur 4200-PA
  • (1) module capacité-tension 4210-CVU
  • (1) accessoire de test 8101-PIV avec échantillons
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Afficher la fiche technique 4200-BTI-A
NBTI/PBTI ultrarapide
Le package pour effectuer des mesures NBTI et PBTI sophistiquées sur technologie CMOS hautes performances 4200-BTI-A comprend :
  • (1) module I-V 4225-PMU ultra-rapide
  • (2) modules commutateur/amplificateur à distance 4225-RPM
  • Logiciel de caractérisation automatique (Automated Characterization Suite)
  • Module pour projet de test BTI ultrarapide
  • Câblage
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Fiabilité des semiconducteurs

Test de fiabilité effectué avec le module à impulsions 4225-PMU

Effectuez des tests de fiabilité complexes en confiant toutes les opérations délicates à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS. Les projets fournis, par exemple la dégradation HCI (Hot Carrier Injection) et l'instabilité de la température de polarisation négative (NBTI), vous aident à démarrer rapidement vos analyses. Pour les laboratoires plus importants, le package 4200-BTI comprend le mappage du site et le contrôle automatique du testeur sous pointes avec le logiciel ACS de Keithley.

Points forts

  • Combinez les mesures DC I-V, C-V et mesures impulsionnelles en un seul lot de tests
  • Avec prise en charge de nombreuses stations de probing et de nombreux équipements externes
  • Le système de cyclage de mesures simple permet de répéter les mesures dans programmation particulière

Mesure C-V pour les applications forte impédance

Balayage C-V très basse fréquence effectué sur un circuit MOSCAP

Utilisez la technique personnalisée Keithley de C-V à très basses fréquences pour analyser la capacité de votre échantillon à haute impédance. Cette technique est utilisée uniquement avec les unités de source et de mesure (SMU), mais peut aussi être combinée à un module 4210-CVU pour effectuer des mesures à plus haute fréquence.

Points forts

  • Gamme de fréquence de 0,01 à 10 Hz avec sensibilité de 1 pF à 10 nF
  • Résolution normale à 3,5 digits, minimum typique de 10 fF

Mémoire non volatile

Test séquentiel de mémoire PUND effectué avec le module à impulsions 4225-PMU

Testez vos nouvelles technologies avec la caractérisation I-V en impulsion. L’analyseur de paramètres 4200A-SCS propose des tests prêts à l’emploi pour les dernières technologies NVRAM, depuis le flash de la grille flottante au ReRAM et FeRAM. Les fonctionnalités doubles de génération et de mesure en courant et tension permettent de caractériser en transitoires les mesures de domaine I-V.

Test en utilisant des longs câbles ou des accessoires capacitifs

Vg-Id test performed with the 4201-SMU module

Utilisez des SMU 4201 ou 4211 lorsque vous effectuez des tests qui requièrent de longs câbles ou des accessoires à capacité élevée. Ces SMU s'avèrent idéaux pour assurer la connexion aux stations de test LCD, aux testeurs sous pointes, aux matrices de commutation à tout autre testeur complexe ou de grandes dimensions. Les versions qui peuvent être installées sur le terrain vous permettent d'augmenter la capacité sans renvoyer l'appareil dans un centre de réparation.

Caractérisation de composants de nanotechnologie

Famille de courbes des transistors nanotubes de carbone FET

Les performances intégrées à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS simplifient le développement de nanocomposants électroniques, comme les nanotubes de carbone. Commencez vos investigations avec un projet de test préconfiguré et utilisez-le comme base de travail. Le mode de source impulsionnel pour les unités de source et de mesure, qui contribue à réduire les problèmes de surchauffe, peut être combiné en quelques secondes aux mesures C-V basse tension et DC pulsées ultrarapides.

Résistivité des matériaux

Mesures de résistivité pour science des matériaux effectuée avec une sonde colinéaire quatre points

Utilisez un analyseur de paramètres 4200A-SCS avec SMU intégrées pour mesurer facilement la résistivité à l’aide d’une sonde colinéaire quatre points ou via la méthode van der Pauw. Les tests intégrés effectuent des calculs van der Pauw automatiques et répétitifs, ce qui vous fait gagner un temps précieux dans vos recherches. Une résolution de courant maximal de 10 aA et une impédance d’entrée de plus de 1 016 Ohm vous assurent des résultats rapides et précis.

Caractérisation MOSFET

Mesure de la tension de seuil d'un MOSFET avec l’analyseur de paramètres 4200A-SCS

L’analyseur de paramètres 4200A-SCS peut regrouper tous les instruments nécessaires à la caractérisation complète des composants MOS pour le test des composants ou test sur wafer. Les tests et les projets fournis permettent de résoudre les questions d’épaisseur d’oxyde du MOSCap, les tensions de seuil, la concentration de dopage, la concentration en ions mobiles, etc. Tous ces tests peuvent être lancés d’une simple pression sur un bouton, sur un seul boîtier.

Fiche technique Module Description Configuration et devis
4200A-CVIV MODULE COMMUTATION I-V/C-V Configuration et devis
4201-SMU Unité de source et de mesure moyenne puissance pour les configurations à capacité élevée Configuration et devis
4211-SMU Unité de source et de mesure haute puissance pour les configurations à capacité élevée Configuration et devis
4201-SMU-R Unité de source et de mesure moyenne puissance qui peut être installée sur le terrain pour les configurations à capacité élevée Configuration et devis
4211-SMU-R Unité de source et de mesure haute puissance qui peut être installée sur le terrain pour les configurations à capacité élevée Configuration et devis
4200-SMU UNITÉ DE SOURCE ET DE MESURE MOYENNE PUISSANCE Configuration et devis
4210-SMU UNITÉ DE SOURCE ET DE MESURE HAUTE PUISSANCE Configuration et devis
4200-SMU-R MPSMU REMPLAÇABLE SUR LE TERRAIN Configuration et devis
4210-SMU-R HPSMU REMPLAÇABLE SUR LE TERRAIN Configuration et devis
4200-PA MODULE DE PRÉAMPLIFICATEUR À DISTANCE Configuration et devis
4210-CVU UNITÉ DE CAPACITÉ-TENSION Configuration et devis
4220-PGU UNITÉ DE GÉNÉRATION D’IMPULSIONS HAUTE TENSION Configuration et devis
4225-PMU UNITÉ DE MESURE D’IMPULSIONS ULTRA-RAPIDE Configuration et devis
4225-RPM MODULE DE PRÉAMPLIFICATEUR/COMMUTATEUR À DISTANCE Configuration et devis
4200-BTI-A PACKAGE BTI ULTRA-RAPIDE Configuration et devis
ACS Software Quick Start Guide
The ACS Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic operation and hardware information, and how to perform a test.
Référence produit\_: ACS-903-01E
Primary User
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Numéro du document\_: 1KW-60780-5
Fiche technique
Making van der Pauw Resistivity and Hall Voltage Measurements Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note provides an overview of the van der Pauw and Hall effect measurement methods and how to use the built-in applications that are included with the 4200A-SCS Parameter Analyzer to perform these measurements.
Numéro du document\_: 1KW-60641-1
Application Note 28 Oct 2019
Making Stable Low Current Measurements with High Test Connection Capacitance Using the 4201-SMU and 4211-SMU
This application note explains the maximum capacitance specifications of an SMU, and describes several applications on which the 4201-SMU and 4211-SMU enables you to make stable low current measurements. The example applications describe include the…
Numéro du document\_: 1KW-61609-0
Application Note 28 Oct 2019
Model 4200A-SCS Clarius V1.7 Software
The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 10 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer. These release notes describe fixed issues and known issues in the software.
Référence produit\_: 077132609
Release Notes
Model 4200A-SCS Clarius V1.6.1 Software
The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 10 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer. These release notes describe fixed issues and known issues in the software.
Référence produit\_: 077132608
Release Notes
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS. The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as…
Référence produit\_: 4200A-901-01G_September_2019_Reference.pdf
Primary User
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.7
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a…
Référence produit\_: 4200A-CLARIUS-V1.7
Application
Do I need to calibrate my instruments separately when I upgrade from the 4200-SCS to a 4200A-SCS mainframe?
No; when the 4200A-MF-UP service is selected, the 4200-SCS is converted to the 4200A-SCS mainframe. This system gains the Clarius software. All supported instrument modules in the original system will be moved to the new, 4200A-SCS mainframe and will…
FAQ ID : 780926 30 Sep 2019
What is included in the 4200A-SCS Windows 10 Upgrade option?
The 4200A-SCS can be upgraded from the Windows 7 operating system to Windows 10. The part number for this upgrade is 4200A-WIN10-UP. This service will provide a USB flash drive containing the upgrade program files and instructions for installing the…
FAQ ID : 780921 30 Sep 2019
Performing Charge Pumping Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note explains how to make charge pumping measurements using the 4200A-SCS with the optional 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module (PMU) or 4220-PGU Pulse Generator Unit (PGU).
Numéro du document\_: 1KW-60634-0
Application Note 04 Sep 2019
ACS Basic Software Reference Manual The ACS Basic Reference Manual includes advanced operation topics, information regarding support…The ACS Basic Reference Manual includes advanced operation topics, information regarding support for Keithley's source and measure instrument products, and in-depth descriptions of programming commands.
Référence produit\_: ACSBASIC-901-01G
Primary User
ACS Software Reference Manual The ACS Reference Manual includes advanced topics, information regarding support for Keithley's…The ACS Reference Manual includes advanced topics, information regarding support for Keithley's source and measure instrument products, and in-depth descriptions of programming commands. 
Référence produit\_: ACS-901-01L
Primary User
ACS Basic Software Quick Start Guide The ACS Basic Quick Start Guide describes installation information, basic connections,…The ACS Basic Quick Start Guide describes installation information, basic connections, reviews basic operation and hardware information, and how to perform a test. 
Référence produit\_: ACSBASIC-903-01C
Primary User
Keithley PreAmp Adapter Installation
Keithley PreAmp Adapter Installation Model 4200-TMB Triaxial Mounting Bracket instructions
Référence produit\_: PA-633A
User
Evolving Materials and Testing for Emerging Generations of Power Electronics Design
Transitioning from silicon to wide bandgap semiconductors such as silicon carbide and gallium nitride means that power module designs can be physically smaller than what came before, while also increasing MOSFET switching speed and energy efficiency. As…
Numéro du document\_: 75W-61556-0
Technical Brief 17 May 2019
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual
The Keithley Instruments Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information.
Référence produit\_: 4200A-CVIV-900-01D
Primary User
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.6.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a…
Référence produit\_: 4200A-CLARIUS-V1.6.1
Application
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition
Precision DC Current, Voltage, and Resistance Measurements
Numéro du document\_: 1KW-1559-0
Handbook 17 Apr 2019
Making Low Current Pulse I-V Measurements
with the 4225-PMU Pulse Measure Unit and 4225-RPM Remote/Preamplifier Switch Modules
Numéro du document\_: 1KW-61527-0
Application Note 24 Mar 2019
Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made. 
0h 32m 53s
Listen to our panel discuss three semiconductor measurement applications where shrinking sizes or faster speeds have changed the device measurement methods being used for the newest memory,…
0h 41m 41s
Get tips on improving DC I-V and capacitance voltage measurements, along with tips on performing DC pulsed tests.
0h 26m 46s
This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to…
0h 27m 26s
In this video, we show you how to quickly set up your test for making automatic I-V and C-V measurements on the Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer.
0h 5m 31s
Measuring new materials or devices? Watch how you can get insights faster-than-ever with hassle-free connections, faster test setup, and built-in test libraries and learning tools. See how to gain…
0h 1m 37s
Téléchargements
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