Analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS

Accélérez la recherche, les études de fiabilité et l’analyse de défauts des matériaux et composants semiconducteurs, et de leurs processus de développement grâce à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS. Analyseur paramétrique de très hautes performances, il permet des mesures synchronisées courant-tension (I-V), capacité-tension (C-V) et les mesures I-V en impulsions ultrarapides.

Essayez-le GRATUITEMENT sur votre PC .

Product-series_4200-promo-options

Gamme de courant-tension
(I-V) DC

10 aA - 1 A
0,2 µV - 210 V

Gamme de capacité-tension
(C-V)

Polarisation 1 kHz - 10 MHz
±30 V DC

Gamme I-V
pulsée

± 40 V (80 V p-p), ±800 mA
fréquence d’échantillonnage 200 Méch./s, 5 ns

 

Aperçu rapide et clair des paramètres.

Face avant des 4200A-SCS et 4200A-CVIV au cours d'un balayage CV

Accéder à de grandes découvertes, ou de belles innovations, n’a jamais été aussi facile. L’analyseur de paramètres 4200A-SCS élimine jusqu’à 50 % de la complexité des opérations de caractérisation et de configuration de test, offrant des capacités de mesure et d’analyse claires et sans compromis. De plus, l’expertise de mesure intégrée, une première sur le marché, vous guide dans les tests et vous garantit une confiance totale dans vos résultats.

Points forts

  • Possibilité d’insertion de vidéos (modes opératoires) en anglais, chinois, japonais et coréen
  • Lancez rapidement vos tests grâce à des centaines de modèles de tests modifiables
  • Extraction automatisée de paramètres, graphiques de données et fonctions arithmétiques en temps réel

Lancez la mesure. Changez de mesures. Répétez.

Multicommutateur Keithley 4200A-CVIV sur une station de test de wafer sous pointes

Le multicommutateur 4200A-CVIV passe automatiquement des mesures I-V aux mesures C-V sans recâblage ni relevage des pointes de test. À l’inverse des produits concurrents, l’écran quatre voies du modèle 4200A-CVIV fournit un aperçu visuel de la mesure en cours pour pouvoir rapidement configurer les tests et facilement résoudre les problèmes en cas de résultats inattendus.

Points forts

  • Permet la mesure C-V sur n’importe quel port de test du composant sans recâblage
  • Configurable par l’utilisateur pour la fonction faible courant
  • Personnalisez le nom des voies de sortie
  • Consultez l’état des tests en temps réel

Mesures de courant faible stables pour la caractérisation I-V

Avec les modules 4201-SMU et 4211-SMU, vous pouvez effectuer des mesures de courants faibles stables dans un système à capacité élevée. Les quatre modèles d'unités de source et de mesure (SMU) au choix permettent de personnaliser le 4200A-SCS pour qu'il réponde à tous vos besoins en matière de mesure I-V. Grâce aux unités qui peuvent être installées sur le terrain et aux modules préamplificateurs optionnels, Keithley vous garantit de pouvoir effectuer les mesures de courant faible les plus précises sans ou avec un très court temps d'arrêt.

Points forts

  • Ajoutez un SMU sans renvoyer l'appareil en usine
  • Effectuez des mesures de l'ordre du femtoampère
  • Jusqu'à 9 voies SMU
  • Optimisé pour les grandes longueurs de câble ou les grandes pointes

Solution intégrée avec sondes analytiques et commandes cryogéniques.

Analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS devant une station de test de wafer sous pointes

L’analyseur de paramètres 4200A-SCS est compatible avec de nombreux testeurs sous pointes pour wafer et régulateurs thermiques cryogéniques manuels et semi-automatiques, tels que les MPI Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Modèle 336.

Points forts

  • Fonction de séquencement de test « pointer-cliquer »
  • Le mode « manuel » permet de tester le fonctionnement du prober
  • Le mode simulation de sonde permet de résoudre les problèmes sans modifier les commandes

Réduisez les coûts et protégez votre investissement.

Protégez votre investissement avec un programme Keithley Care.

Les contrats Keithley Care offrent des services rapides et de grande qualité pour un coût nettement inférieur à ceux des réparations effectuées à la demande des clients. Un clic ou un appel suffisent pour prendre en charge la réparation : pas de devis, de bons de commandes ou de délai de validation.

En savoir plus

 

Fiche technique Modèle Description Offre de prix
Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PK1
IV haute résolution
Résolution 0,1 fA, 210 V/100 mA
Le package de caractérisation 4200A-SCS-PK1 pour les circuits à deux et trois terminaisons, MOSFET, CMOS comprend :
  • Analyseur de paramètres 4200A-SCS
  • (2) modules 4200-SMU
  • (1) préamplificateur 4200-PA
  • (1) accessoire de test 8101-PIV avec échantillons
Demander un devis
Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PK2
IV et CV haute résolution
Résolution 0,1 fA, 210 V/100 mA
Le package de caractérisation 4200A-SCS-PK2 pour les circuits à deux et trois terminaisons MOSFET et CMOS comprend :
  • Analyseur de paramètres 4200A-SCS
  • (2) modules 4200-SMU
  • (1) préamplificateur 4200-PA
  • (1) module capacité-tension 4210-CVU
  • (1) accessoire de test 8101-PIV avec échantillons
Demander un devis
Afficher la fiche technique 4200A-SCS-PK3
IV et CV haute résolution et puissance
Résolution 0,1 fA, 210 V/1 A, 1 kHz à 10 MHz
Le package de caractérisation 4200A-SCS-PK3 pour les circuits de puissance, à constante diélectrique κ élevée et CMOS submicroniques comprend :
  • Analyseur de paramètres 4200A-SCS
  • (2) modules 4200-SMU
  • (2) 4210-SMU
  • (1) préamplificateur 4200-PA
  • (1) module capacité-tension 4210-CVU
  • (1) accessoire de test 8101-PIV avec échantillons
Demander un devis
Afficher la fiche technique 4200-BTI-A
NBTI/PBTI ultrarapide
Le package pour effectuer des mesures NBTI et PBTI sophistiquées sur technologie CMOS hautes performances 4200-BTI-A comprend :
  • (1) module I-V 4225-PMU ultra-rapide
  • (2) modules commutateur/amplificateur à distance 4225-RPM
  • Logiciel de caractérisation automatique (Automated Characterization Suite)
  • Module pour projet de test BTI ultrarapide
  • Câblage
Demander un devis

Fiabilité des semiconducteurs

Test de fiabilité effectué avec le module à impulsions 4225-PMU

Effectuez des tests de fiabilité complexes en confiant toutes les opérations délicates à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS. Les projets fournis, par exemple la dégradation HCI (Hot Carrier Injection) et l'instabilité de la température de polarisation négative (NBTI), vous aident à démarrer rapidement vos analyses. Pour les laboratoires plus importants, le package 4200-BTI comprend le mappage du site et le contrôle automatique du testeur sous pointes avec le logiciel ACS de Keithley.

Points forts

  • Combinez les mesures DC I-V, C-V et mesures impulsionnelles en un seul lot de tests
  • Avec prise en charge de nombreuses stations de probing et de nombreux équipements externes
  • Le système de cyclage de mesures simple permet de répéter les mesures dans programmation particulière

Mesure C-V pour les applications forte impédance

Balayage C-V très basse fréquence effectué sur un circuit MOSCAP

Utilisez la technique personnalisée Keithley de C-V à très basses fréquences pour analyser la capacité de votre échantillon à haute impédance. Cette technique est utilisée uniquement avec les unités de source et de mesure (SMU), mais peut aussi être combinée à un module 4210-CVU pour effectuer des mesures à plus haute fréquence.

Points forts

  • Gamme de fréquence de 0,01 à 10 Hz avec sensibilité de 1 pF à 10 nF
  • Résolution normale à 3,5 digits, minimum typique de 10 fF

Mémoire non volatile

Test séquentiel de mémoire PUND effectué avec le module à impulsions 4225-PMU

Testez vos nouvelles technologies avec la caractérisation I-V en impulsion. L’analyseur de paramètres 4200A-SCS propose des tests prêts à l’emploi pour les dernières technologies NVRAM, depuis le flash de la grille flottante au ReRAM et FeRAM. Les fonctionnalités doubles de génération et de mesure en courant et tension permettent de caractériser en transitoires les mesures de domaine I-V.

Test en utilisant des longs câbles ou des accessoires capacitifs

Test Vg-Id effectué avec le module 4201-SMU

Utilisez des SMU 4201 ou 4211 lorsque vous effectuez des tests qui requièrent de longs câbles ou des accessoires à capacité élevée. Ces SMU s'avèrent idéaux pour assurer la connexion aux stations de test LCD, aux testeurs sous pointes, aux matrices de commutation à tout autre testeur complexe ou de grandes dimensions. Les versions qui peuvent être installées sur le terrain vous permettent d'augmenter la capacité sans renvoyer l'appareil dans un centre de réparation.

Caractérisation de composants de nanotechnologie

Famille de courbes des transistors nanotubes de carbone FET

Les performances intégrées à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS simplifient le développement de nanocomposants électroniques, comme les nanotubes de carbone. Commencez vos investigations avec un projet de test préconfiguré et utilisez-le comme base de travail. Le mode de source impulsionnel pour les unités de source et de mesure, qui contribue à réduire les problèmes de surchauffe, peut être combiné en quelques secondes aux mesures C-V basse tension et DC pulsées ultrarapides.

Résistivité des matériaux

Mesures de résistivité pour science des matériaux effectuée avec une sonde colinéaire quatre points

Utilisez un analyseur de paramètres 4200A-SCS avec SMU intégrées pour mesurer facilement la résistivité à l’aide d’une sonde colinéaire quatre points ou via la méthode van der Pauw. Les tests intégrés effectuent des calculs van der Pauw automatiques et répétitifs, ce qui vous fait gagner un temps précieux dans vos recherches. Une résolution de courant maximal de 10 aA et une impédance d’entrée de plus de 1 016 Ohm vous assurent des résultats rapides et précis.

Caractérisation MOSFET

Mesure de la tension de seuil d'un MOSFET avec l’analyseur de paramètres 4200A-SCS

L’analyseur de paramètres 4200A-SCS peut regrouper tous les instruments nécessaires à la caractérisation complète des composants MOS pour le test des composants ou test sur wafer. Les tests et les projets fournis permettent de résoudre les questions d’épaisseur d’oxyde du MOSCap, les tensions de seuil, la concentration de dopage, la concentration en ions mobiles, etc. Tous ces tests peuvent être lancés d’une simple pression sur un bouton, sur un seul boîtier.

Fiche technique Module Description Configuration et devis
4200A-CVIV MODULE COMMUTATION I-V/C-V Configuration et devis
4201-SMU Unité de source et de mesure moyenne puissance pour les configurations à capacité élevée Configuration et devis
4211-SMU Unité de source et de mesure haute puissance pour les configurations à capacité élevée Configuration et devis
4201-SMU-R Unité de source et de mesure moyenne puissance qui peut être installée sur le terrain pour les configurations à capacité élevée Configuration et devis
4211-SMU-R Unité de source et de mesure haute puissance qui peut être installée sur le terrain pour les configurations à capacité élevée Configuration et devis
4200-SMU UNITÉ DE SOURCE ET DE MESURE MOYENNE PUISSANCE Configuration et devis
4210-SMU UNITÉ DE SOURCE ET DE MESURE HAUTE PUISSANCE Configuration et devis
4200-SMU-R MPSMU REMPLAÇABLE SUR LE TERRAIN Configuration et devis
4210-SMU-R HPSMU REMPLAÇABLE SUR LE TERRAIN Configuration et devis
4200-PA MODULE DE PRÉAMPLIFICATEUR À DISTANCE Configuration et devis
4210-CVU UNITÉ DE CAPACITÉ-TENSION Configuration et devis
4220-PGU UNITÉ DE GÉNÉRATION D’IMPULSIONS HAUTE TENSION Configuration et devis
4225-PMU UNITÉ DE MESURE D’IMPULSIONS ULTRA-RAPIDE Configuration et devis
4225-RPM MODULE DE PRÉAMPLIFICATEUR/COMMUTATEUR À DISTANCE Configuration et devis
4200-BTI-A PACKAGE BTI ULTRA-RAPIDE Configuration et devis
Gate Dielectric Capacitance-Voltage Characterization Using the Model 4200
Introduction Maintaining the quality and reliability of gate oxides is one of the most critical and challenging tasks in any semiconductor fab. With feature sizes shrinking to 0.18µm or less, gate oxides are often less than 30Å …

Numéro du document : #2239
Note d’application
Measuring Inductance Using the 4200-CVU Capacitance-Voltage Unit
Note d’application
Measuring MOSFET Gate Charge with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note describes how to measure gate charge on a MOSFET based on the JEDEC Gate Charge Test Method using the 4200A-SCS Parameter Analyzer.

Numéro du document : 1KW-61388-0
Note d’application
What is the time required to switch between Pulse IV (4225PMU) and CV (4210ACVU) measurements using the 4225-RPM for the 4200A-SCS?
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below …
Numéro de la FAQ469646
Is there a resettable fuse on the interlock circuit for model 4200A-SCS?
Yes, there is a resettable fuse. It takes several minutes to reset, please give it some time.This is discussed on page 4 and 5 of the included application note. Here is a link to the application note on the Tek website: https://www.tek …
Numéro de la FAQ248681
Do I need to calibrate my instruments separately when I upgrade from the 4200-SCS to a 4200A-SCS mainframe?
No; when the 4200A-MF-UP service is selected, the 4200-SCS is converted to the 4200A-SCS mainframe. This system gains the Clarius software. All supported instrument modules in the original system will be moved to the new, 4200A-SCS mainframe and will …
Numéro de la FAQ780926
Does Model 4200A-SCS support Model 590-CV meter like the Model 4200-SCS?
The Model 590-CV is a stand alone CV meter and can be controlled from either the 4200A-SCS and 4200-SCS using the KIXI (remote interface software).
Numéro de la FAQ249356
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only …
Numéro de la FAQ255351
I have lost the device library on the 4200A-SCS, how to get it back?
The best way to get the library back is to re-install Clarius the their system. It’s free from our Tek.com website. Here is the link :https://www.tek.com/software/clarius/1-3
Numéro de la FAQ247546
What is included in the 4200A-SCS Windows 10 Upgrade option?
The 4200A-SCS can be upgraded from the Windows 7 operating system to Windows 10. The part number for this upgrade is 4200A-WIN10-UP. This service will provide a USB flash drive containing the upgrade program files and instructions for installing the …
Numéro de la FAQ780921
4200A-SCS Parameter Analyzer Datasheet

Numéro du document : 1KW-60780-5
Datasheet
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual

The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS.

The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as connection information and SMU, PGU, PMU, and CVU descriptions. It also includes descriptions of the Clarius, KCon, KPulse, KULT, and KXCI software. LPT library descriptions are also provide. 


Numéro de référence : 4200A-901-01G_September_2019_Reference.pdf
Utilisateur principal
Model 4200A-SCS Clarius V1.7 Software

The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 10 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer. These release notes describe fixed issues and known issues in the software.


Numéro de référence : 077132609
Notes de publication
Model 4200A-SCS Clarius V1.6.1 Software

The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS. Clarius+ software requires Microsoft Windows 10 on your 4200A-SCS Parameter Analyzer. These release notes describe fixed issues and known issues in the software.


Numéro de référence : 077132608
Notes de publication
Model 4200A Parameter Analyzer User's Manual
The Keithley Instruments Model 4200A-SCS User's Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information. User Manual

This User's Manual includes specific applications to help you get started quickly.
Numéro de référence : 4200A-900-01C
Utilisateur principal
Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual
The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A-SCS.

The Model 4200A-SCS Parameter Analyzer Reference Manual provides detailed instruction for the 4200A. It includes hardware information, such as connection information and SMU, PGU, PMU, and CVU descriptions. It also includes descriptions of the Clarius, KCon, KPulse, KULT, and KXCI software. LPT library descriptions are also provided.


Numéro de référence : 4200A-901-01F
Utilisateur principal
Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual
User's manual for the 4200A CV-IV multi-switch.

The Keithley Instruments Model 4200A-CVIV Multi-Switch User's Manual provides detailed product, connection, accessory, application, and Clarius+ software information.


Numéro de référence : 4200A-CVIV-900-01D
Utilisateur principal
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions
Model 4200A-RM Rack Mount Kit Installation Instructions

This document contains installation instructions for the Model 4200A-RM Rack-Mount Kit, a fixed rack-mount kit for cabinet mounting of the Keithley 4200A-SCS Semiconductor Characterization System.


Numéro de référence : 071348701
Model 4210-MMPC-C Multi-Measurement Prober Cable Kit Quick Start Guide
This multi-measurement cable set is a collection of standard and custom connectors and accessories used to take I-V, C-V, and pulsed I-V measurements using a single prober cable setup. Instruction Manual

This multi-measurement cable set is a collection of standard and custom connectors and accessories used to take I-V, C-V, and pulsed I-V measurements using a single prober cable setup.
Numéro de référence : PA-1001D
Utilisateur
KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 Software Release Notes & Installation Instructions
Release notes and installation instructions for KTE Interactive software for the 4200. Release Notes

This document provides supplemental information regarding KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 (SP2). This information includes detailed instructions describing how to install this service pack and and summary of fixes and enhancements included in KTE Interactive V9.1 Service Pack 2.
Numéro de référence : PA-895R
Notes de publication
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System Declassification and Security Instructions Instructions

If you have data security concerns, this document tells you how to clear or sanitize the Keithley Instruments Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System's memory devices. It also explains how to declassify an instrument that is not functioning.
Numéro de référence : 077134300
Déclassification
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions
Model 4200A-SCS Declassification and Security Instructions Instructions

If you have data security concerns, this document tells you how to clear or sanitize the Keithley Instruments Model 4200A-SCS Parameter Analyzer's memory devices. It also explains how to declassify an instrument that is not functioning.
Numéro de référence : 077126200
Déclassification
Modèle 4200A-SCS Liste d'Avertissements
Warnings from the QSGs, User's Manual and Reference Manual translated into French for the 4200A-SCS Other

List of documentation warnings for the Canadian market that are in both English and French.
Numéro de référence : 077126000
Utilisateur
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Semiconductor Characterization System Quick Start Guide Quick Start User Manual

Brief introduction to the Keithley Instruments 4200A-SCS Parameter Analyzer, including unpacking and initial connection information.
Numéro de référence : 4200A-903-01A
Utilisateur principal
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide
Model 4200A-SCS Package 3 System Quick Start Guide Quick Start User Manual

The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK3 provides unpacking and basic connection information. It also provides step-by-step examples to allow you to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Numéro de référence : 4200A-PK3-903-01A
Utilisateur principal
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide
Model 4200A-SCS-PK2 Parameter Analyzer Quick Start Guide Quick Start User Manual

The Quick Start Guide for the Keithley Instruments 4200A-SCS-PK2 provides unpacking and basic connection information. It also provides sample tests that you can use to familiarize yourself with the Parameter Analyzer.
Numéro de référence : 4200A-PK2-903-01A
Utilisateur principal
Model 4200-Compiler Installation Instructions
4200-Compiler installation instructions for the 4200A-SCS and 4200-SCS Instructions

Installation instructions for the Model 4200-Compiler, a compiler that you can use to create user modules for the 4200A-SCS Parameter Analyzer and the 4200-SCS.
Numéro de référence : PA-1030E
Utilisateur/Service combiné
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.7
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a …

Numéro de référence : 4200A-CLARIUS-V1.7
Application
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.6.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix Company, at TEK.com to upgrade the parameter analyzer. If installing on a …

Numéro de référence : 4200A-CLARIUS-V1.6.1
Application
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.5
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a …

Numéro de référence : 4200A-CLARIUS-V1.5
Application
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3
The 4200A-SCS Clarius+ Software Suite provides a clear, uncompromised parameter analysis for your semiconductor devices, materials, processes and more. Download the latest version of Clarius+ to stay up-to-date with the ever-growning library of ready …

Numéro de référence : 4200A-CLARIUS-V1.3
Application
4200-SCS KTEI V9.1 Service Pack 2
4200-SCS KTE Interactive V9.1 Service Pack 2 includes all changes from KTEI V9.1 Service Pack 1, plus additional enhancements and fixes for known bugs. This service pack is to be installed on top of either KTEI V9.1 or V9.1 Service Pack 1 software on …

Numéro de référence : 4200-KTEI-V9.1SP2
Application
Making van der Pauw Resistivity and Hall Voltage Measurements Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note provides an overview of the van der Pauw and Hall effect measurement methods and how to use the built-in applications that are included with the 4200A-SCS Parameter Analyzer to perform these measurements.

Numéro du document : 1KW-60641-1
Note d’application
C-V Characterization of MOS Capacitors Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
Creating External Instruments Drivers for the Model 4200-SCS

Numéro du document : technical note #2661
Note d’application
C-V Testing for Semiconductor Components and Devices - Applications Guide
Note d’application
C‑V Characterization of MOS Capacitors Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Numéro du document : 1KW-60645-0
Note d’application
Switching Between C-V and I-V Measurements Using the 4200A-CVIV Multi-Switch and 4200A-SCS Parameter Analyzer

Numéro du document : 1KW-60635-0
Note d’application
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
Using the Ramp Rate Method for Making Quasistatic C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Numéro du document : 1KW-60639-0
Note d’application
Using the Model 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
Using the Wafer Map Parameters Option with Cascade Nucleus Prober Software and the Model 4200-SCS

Numéro du document : Job number 2657.
Note d’application
Using the Model 4225-RPM Remote Amplifier/ Switch to Automate Switching Between DC I-V, C-V, and Pulsed I-V Measurements

Numéro du document : 1KW-60628-0
Note d’application
Using the 4200-CVU-PWR C-V Power Package to Make High Voltage and High Current C-V Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Numéro du document : 1KW-60637-0
Note d’application
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.

Numéro du document : 1KW-61356-0
Note d’application
Evaluating Oxide Reliability
Application Note Number 2240 Evaluating Oxide Reliability Using V-Ramp and J-Ramp Techniques Oxide integrity is an important reliability concern, especially for today's ULSI MOSFET devices, where oxide thickness has been scaled to a few atomic layers …
Note d’application
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Numéro du document : 1KW-60633-0
Note d’application
Electrical Characterization of Photovoltaic Materials and Solar Cells with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Numéro du document : 1KW-60642-0
Note d’application
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
Monitoring Channel Hot Carrier (CHC) Degradation of MOSFET Devices using Keithley's Model 4200-SCS

Numéro du document : Print job #2535
Note d’application
Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Full color brochure covering the semiconductor characterization system, Model 4200-scs.
Brochure
Model 4200-SCS & KTEI 5.0 Software Extend Semi Characterization to Stress-Measure, Reliability Test
Cleveland, Ohio - December 11, 2003 - Keithley Instruments, Inc. (NYSE: KEI) today announced availability of its Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System with its integral Keithley Test Environment-Interactive (KTEI) v5.0 software.
Actualité
Modifying Keithley Interlock Cable 236-ILC-3 for Use w/Cascade 12000 Series Semiautomatic Probers
Note d’application
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
This e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the …

Numéro du document : 1KW-60780-1
Brochure
SOLUTIONS FOR SCIENTIFIC AND ENGINEERING RESEARCH

Numéro du document : 55W_30503_2
Brochure
1 ns Pulsing Solutions for Non-Volatile Memory Testing
Ultra-fast (<10 ns) pulsing is required to develop the newest non-volatile memory types like Flash, PCRAM, STT-RAM and others. In addition to the recommended minimum and allowable minimum pulse widths possible using the Keithley 4225-PMU Ultra-Fast I …

Numéro du document : 1KW-61454-1
Dossier technique
An Ultra-Fast Single Pulse (UFSP) Technique for Channel Effective Mobility Measurement

Numéro du document : 1KW-60643-0
Note d’application
Ultra-Fast I-V Applications for the Model 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module
Note d’application
Ultra Fast Single Pulse Technique for Channel Effective Mobility Measurement
Note d’application
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process …

Numéro du document : 1KW-60873-1
Fiche d’informations
Probing Transistors at the Contact Level in Integrated Circuits
Note d’application
ACS Integrated Test System for Lab-Based Automation
Note d’application
Advances in Electrical Measurements for Nanotechnology E-Handbook
Rev 3.13
Fiche d’informations
Pulse I-V Characterization of Non-Volatile Memory Technologies

Numéro du document : 1KW-60638-0
Note d’application
Pulsed I-V Testing for Components and Semiconductor Devices - Applications Guide
Note d’application
Pulse Testing for Nanoscale Devices
Article technique
Wafer Level Reliability Testing with the Keithley Model 4200A-SCS Parameter Analyzer
Evolving design scales and new materials are making wafer level reliability testing more critical than ever. This is also driving the demand for reliability testing and modeling much further upstream, especially into the R&D process …

Numéro du document : 1KW-61526-0
Note d’application
Greater Reliability Testing Confidence from Lab to Fab - Wafer Level Reliability Test Solutions
Keithley Instruments has long been an industry leader in both overall parametric test technology and wafer level reliability (WLR) testing. Several generations of Keithley’s parametric test solutions have offered WLR test algorithm libraries as …
Affiche
METHODS AND TECHNIQUES FOR SEMICONDUCTOR CHARACTERIZATION

Numéro du document : 1KW-60825-0
Note d’application
Making Charge-Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System and Series 3400 Pulse/Pattern Generator

Numéro du document : Job #2851
Note d’application
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS
Making Ultra-Low Current Measurements with the Low-Noise Model 4200-SCS Semiconductor Characteriztion System Parametric characterization of semiconductor devices typically requires making extremely low current measurements. For MOSFET devices, the …

Numéro du document : Application Note Number 2241
Note d’application
Making Low Current Pulse I-V Measurements
This application note defines ultra-fast I-V, explains the fundamental limits of current measurements as a function of time and measure window, and describes the techniques for making ultra-fast I-V low current measurements.

Numéro du document : 1KW-61527-0
Note d’application
Making Three-Terminal Capacitance-Voltage Measurements Up to 400 V
This application note explains how the CISS, COSS and CRSS measurements are made using the bias tee capabilities in the 4200A-CVIV Multi-Switch. This application note also shows how the instrument DC output voltage was doubled from 200 V to 400 V for …

Numéro du document : 1KW-61529-0
Note d’application
Making I-V and C-V Measurements on Solar/Photovoltaic Cells Using the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
Making Stable Low Current Measurements with High Test Connection Capacitance Using the 4201-SMU and 4211-SMU
This application note explains the maximum capacitance specifications of an SMU, and describes several applications on which the 4201-SMU and 4211-SMU enables you to make stable low current measurements. The example applications describe include the …

Numéro du document : 1KW-61609-0
Note d’application
Making Optimal Capacitance and AC Impedance Measurements with the 4210-CVU Capacitance Voltage Unit
Capacitance-voltage (C-V) and AC impedance measurements are commonly performed on many types of devices for a wide variety of applications.  This application note describes how to make optimal capacitance measurements using proper measurement …

Numéro du document : 1KW-61528-0
Note d’application
TECHNIQUES FOR MEASURING RESISTIVITY FOR MATERIALS CHARACTERIZATION

Numéro du document : 1KW-60826-0
Note d’application
Low Level Measurements Handbook - 7th Edition

Numéro du document : 1KW-1559-0
Manuel
A Local Area Network Laboratory Based on the Keithley 4200-SCS for Engineering Education in Microelectronics
Livre blanc
Evolving Materials and Testing for Emerging Generations of Power Electronics Design
Transitioning from silicon to wide bandgap semiconductors such as silicon carbide and gallium nitride means that power module designs can be physically smaller than what came before, while also increasing MOSFET switching speed and energy efficiency …

Numéro du document : 75W-61556-0
Dossier technique
Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices
Application Note # 2197 Evaluating Hot Carrier Induced Degradation of MOSFET Devices With decreased MOSFET gate length, hot carrier induced degradation has become one of the most important reliability concerns.
Note d’application
Performing Charge Pumping Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
Performing Charge Pumping Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer
This application note explains how to make charge pumping measurements using the 4200A-SCS with the optional 4225-PMU Ultra-Fast I-V Module (PMU) or 4220-PGU Pulse Generator Unit (PGU).

Numéro du document : 1KW-60634-0
Note d’application
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the Mode 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
The Emerging Challenges of Nanotechnology Testing
Article technique
Performing Very Low Frequency Capacitance-Voltage Measurements on High Impedance Devices Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Numéro du document : 1KW-60644-0
Note d’application
E-Handbook Guide to Switch Considerations by Signal Type
Fiche d’informations
Breathe New Life into Your 4200-SCS Parameter Analyzer
Fiche d’informations
Optimizing Low Current Measurements with the 4200A-SCS Parameter Analyzer

Numéro du document : 1KW-60636-0
Note d’application
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS

Numéro du document : Rev 7.15.11 ah
Note d’application
Keithley Pulse Solutions
Brochure
Discover Today's Solutions for Tomorrow's Nano Characterization Challenges
Brochure
DC Electrical Characterization of RF Power Transistors
Note d’application
How to Choose and Apply Source Measure Unit SMU Instruments
Note d’application
Optimizing Low Current Measurements with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Note d’application
I-V Measurements of Nanoscale Wires and Tubes with the Model 4200-SCS and Zyvex S100 Nanomanipulator

Numéro du document : Job #2481
Note d’application
Integral PC Design of Keithley Model 4200-SCS is at the Leading Edge of a New Instrumentation Trend
Article technique
KTEI V8.2 for the Model 4200-SCS: Characterize NVM, Measure VLF C-V, Make More Pulsed or Ultra-fast I-V Measurements in Parallel
Brochure
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve …

Numéro du document : 1KW-60158-1
Note d’application
Touch, Test, Invent with the Next Generation Current and Voltage Source-Measure Instruments
Fiche d’informations
Improving the Measurement Speed and Overall Test Time of the Model 4200-SCS
Note d’application
DC I-V Testing for Components and Semiconductor Devices
DC I-V measurements are the cornerstone of device and material testing. This DC I-V testing applications e-guide features a concentration of application notes on DC I-V testing methods and techniques using Keithley’s Model 4200-SCS Parameter Analyzer …
Note d’application
DC I-V and AC Impedance Testing of Organic FETs
This application note outlines how to optimize DC I-V and AC impedance measurements on OFETs using the 4200A-SCS Parameter Analyzer. Timing parameters, noise reduction, shielding, proper cabling, and other important measurement considerations for …

Numéro du document : 1KZ-61313-0
Note d’application
Writing Prober Drivers for the Model 4200-SCS

Numéro du document : Job #2361. Updated 01/07
Note d’application
Moving from Windows XP to Windows 7? Upgrade Your Model 4200-SCS
Manuel d’instructions
Safely Using the Interlock on the Keithley Model 4200-SCS
Note d’application
Resistivity Measurements of Semiconductor Materials Using the 4200A-SCS Parameter Analyzer and a Four-Point Collinear Probe

Numéro du document : 1KW-60640-0
Note d’application
Keithley PreAmp Adapter Installation

Keithley PreAmp Adapter Installation Model 4200-TMB Triaxial Mounting Bracket instructions


Numéro de référence : PA-633A
Utilisateur
Models 4200-MAG-BASE, VAC-BASE, and 4225-RPM

Models 4200-MAG-BASE, VAC-BASE, and 4225-RPM Probe Station Mounting Base Installation Instructions
Numéro de référence : PA-624C
Utilisateur
Listen to our panel discuss three measurement applications where the properties of new materials have influenced how measurements are made. 
32m 53s
In this video, we show you how to quickly set up your test for making automatic I-V and C-V measurements on the Keithley 4200A-SCS Parameter Analyzer.
5m 31s
Listen to our panel discuss three semiconductor measurement applications where shrinking sizes or faster speeds have changed the device measurement methods being used for the newest memory …
41m 41s
Measuring new materials or devices? Watch how you can get insights faster-than-ever with hassle-free connections, faster test setup, and built-in test libraries and learning tools. See how to gain …
1m 37s
Get tips on improving DC I-V and capacitance voltage measurements, along with tips on performing DC pulsed tests.
26m 47s
This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run …
27m 27s