Analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS

Analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS

Accélérez la recherche, les études de fiabilité et l’analyse de défauts des matériaux et composants semiconducteurs, et de leurs processus de développement grâce à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS. Analyseur de performances le plus efficace, il assure la synchronisation courant-tension (I-V), capacité-tension (C-V) et les mesures I-V pulsées ultrarapides.

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Gamme de courant-tension
(I-V) DC

10 aA - 1 A
0,2 µV - 210 V

Gamme de capacité-tension
(C-V)

Bias 1 kHz - 10 MHz
Polarisation ± 30 V DC

Gamme I-V
Plage

± 40 V (80 V p-p), ±800 mA
fréquence d’échantillonnage 200 Méch./s, 5 ns

 

Analyseur paramétrique Keithley 4200A-SCS

Aperçu rapide et clair des paramètres.

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Accéder à de grandes découvertes, ou de belles innovations, n’a jamais été aussi facile. L’analyseur de paramètres 4200A-SCS élimine jusqu’à 50 % de la complexité des opérations de caractérisation et de configuration de test, offrant des capacités de mesure et d’analyse claires et sans compromis. De plus, l’expertise de mesure intégrée, une première sur le marché, vous guide dans les tests et vous garantit une confiance totale dans vos résultats.

Points forts

  • Possibilité d’insertion de vidéos (modes opératoires) en anglais, chinois, japonais et coréen
  • Lancez rapidement vos tests grâce à des centaines de modèles de tests modifiables
  • Extraction automatisée de paramètres, graphiques de données et fonctions arithmétiques en temps réel

Lancez la mesure. Changez de mesures. Répétez.

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Le multicommutateur 4200A-CVIV passe automatiquement des mesures I-V aux mesures C-V sans recâblage ni relevage des pointes de test. À l’inverse des produits concurrents, l’écran quatre voies du modèle 4200A-CVIV fournit un aperçu visuel de la mesure en cours pour pouvoir rapidement configurer les tests et facilement résoudre les problèmes en cas de résultats inattendus.

Points forts

  • Permet la mesure C-V sur n’importe quel port de test du composant sans recâblage
  • Configurable par l’utilisateur pour la fonction faible courant
  • Personnalisez le nom des voies de sortie
  • Consultez l’état des tests en temps réel

Caractérisez. Personnalisez. Optimisez.

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Pour le dire simplement, l’analyseur de paramètres 4200A-SCS est entièrement personnalisable et évolutif. Vous pouvez ainsi définir les caractéristiques électriques et évaluer les semiconducteurs, les nouveaux matériaux, les composants actifs/passifs, la fiabilité au niveau du wafer, l’analyse des défaillances, l’électrochimie ou tout autre type d’échantillon.

Points forts

  • Test NBTI/PBTI
  • Bruit impulsionnel
  • Composant à mémoire non volatile
  • Tests d’application de potentiostats

Solution intégrée avec sondes analytiques et commandes cryogéniques.

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L’analyseur de paramètres 4200A-SCS est compatible avec de nombreux testeurs sous pointes pour wafer et régulateurs thermiques cryogéniques manuels et semi-automatiques, tels que Cascade MicroTech, Lucas Labs/Signatone, MicroManipulator, Wentworth Laboratories, LakeShore Modèle 336.

Points forts

  • Fonction de séquencement de test « pointer-cliquer »
  • Le mode « manuel » permet de tester le fonctionnement du prober
  • Le mode simulation de sonde permet de résoudre les problèmes sans modifier les commandes

 

Fiabilité des semiconducteurs

Effectuez des tests de fiabilité complexes en confiant toutes les opérations de codage complexes à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS. Les projets fournis, par exemple la dégradation HCI (Hot Carrier Injection), vous aident à démarrer rapidement vos analyses.

Points forts

  • Combinez les mesures DC I-V, C-V et mesures impulsionnelles en un seul lot de tests
  • Avec prise en charge de nombreuses stations de probing et de nombreux équipements externes
  • Le système de cyclage de mesures simple permet de répéter les mesures dans programmation particulière

Mesure C-V pour les applications forte impédance

Utilisez la technique personnalisée Keithley de C-V à très basses fréquences pour analyser la capacité de votre échantillon à haute impédance. Cette technique est utilisée uniquement avec les unités de source et de mesure (SMU), mais peut aussi être combinée à un module 4210-CVU pour effectuer des mesures à plus haute fréquence.

Points forts

  • Gamme de fréquence de 0,01 à 10 Hz avec sensibilité de 1 pF à 10 nF
  • Résolution normale à 3,5 digits, minimum typique de 10 fF

Mémoire non volatile

Testez vos nouvelles technologies avec la caractérisation I-V en impulsion. L’analyseur de paramètres 4200A-SCS propose des tests prêts à l’emploi pour les dernières technologies NVRAM, depuis le flash de la grille flottante au ReRAM et FeRAM. Les fonctionnalités doubles de génération et de mesure en courant et tension permettent de caractériser en transitoires les mesures de domaine I-V.

Test VCSEL

Les unités de source et de mesure (SMU) multiples et simultanées de l’analyseur de paramètres 4200A-SCS simplifient le test des diodes laser. Générez des Courbes LIV (puissance lumineuse courant-tension) avec des connexions à un seul et unique boîtier de test. En combinant la station de probing et la matrice de commutation, vous pouvez utiliser le même instrument pour les tests en production sur wafer pour les diodes en test individuel ou par lots. Les unités d’alimentation et de mesure peuvent être configurées jusqu’à 21 W (continu) pour une variété d’applications de tests VCSEL.

Caractérisation de composants de nanotechnologie

Les performances intégrées à l’analyseur de paramètres 4200A-SCS simplifient le développement de nanocomposants électroniques, comme les nanotubes de carbone. Commencez vos investigations avec un projet de test préconfiguré et utilisez-le comme base de travail. Le mode de source impulsionnel pour les unités de source et de mesure, qui contribue à réduire les problèmes de surchauffe, peut être combiné en quelques secondes aux mesures C-V basse tension et DC pulsées ultrarapides.

Résistivité des matériaux

Utilisez un analyseur de paramètres 4200A-SCS avec SMU intégrées pour mesurer facilement la résistivité à l’aide d’une sonde colinéaire quatre points ou via la méthode van der Pauw. Les tests intégrés effectuent des calculs van der Pauw automatiques et répétitifs, ce qui vous fait gagner un temps précieux dans vos recherches. Une résolution de courant maximal de 10 aA et une impédance d’entrée de plus de 1 016 Ohm vous assurent des résultats rapides et précis.

Caractérisation MOSFET

L’analyseur de paramètres 4200A-SCS peut regrouper tous les instruments nécessaires à la caractérisation complète des composants MOS pour le test des composants ou test sur wafer. Les tests et les projets fournis permettent de résoudre les questions d’épaisseur d’oxyde du MOSCap, les tensions de seuil, la concentration de dopage, la concentration en ions mobiles, etc. Tous ces tests peuvent être lancés d’une simple pression sur un bouton, sur un seul boîtier.

Data Sheet Module Description Configure and Quote
4200-BTI-A ULTRA FAST BTI PKG Configure & Quote
4200-PA REMOTE PREAMPLIFIER MODULE Configure & Quote
4200-SMU MEDIUM POWER SOURCE-MEASURE UNIT Configure & Quote
4200A-CVIV I-V/C-V MULTI-SWITCH MODULE Configure & Quote
4210-CVU CAPACITANCE-VOLTAGE UNIT Configure & Quote
4210-SMU HIGH POWER SOURCE-MEASURE UNIT Configure & Quote
4220-PGU HIGH VOLTAGE PULSE GENERATOR UNIT Configure & Quote
4225-PMU ULTRA-FAST PULSE MEASURE UNIT Configure & Quote
4225-RPM REMOTE PREAMPLIFIER/SWITCH MODULE Configure & Quote
4200-SMU-R FIELD REPLACEABLE MPSMU Configure & Quote
4210-SMU-R FIELD REPLACEABLE HPSMU Configure & Quote
TitreTypeDate
Keithley Instrumentation for Electrochemical Test Methods and Applications
This application note discusses a variety of electrochemical applications, including voltammetry, low and high resistivity measurements, battery test, potentiometry, electrodeposition, electrical device characterization, and other tests that involve…
Numéro du document : 1KW-60158-1
Application Note 25 Apr 2018
Using the 4200A-CVIV Multi-Switch to Make High Voltage and High Current C-V Measurements
This application note explains the implementation of the bias tee modes of the 4200A-CVIV to make high voltage C-V measurement. It assumes the reader is familiar with making C-V measurements with the Keithley 4200A-SCS using the CVIV.
Numéro du document : 1KW-61356-0
Application Note 17 Apr 2018
Switch Time between Pulse IV and CV measurements using the 4225-RPM.
The RPM eliminates the need to re-cable and increases switching speed between Pulsed IV and CV measurements.  However, we do not specify the switching time for the RPMs in the data sheets. A simple test using a MDO3102 yeided the below approximate switch…
FAQ ID: 469646 16 Apr 2018
Simplifying MOSFET and MOSCAP Device Characterization e-Guide
Answering Your Questions on Tools and TechniquesThis e-guide answers some common questions about making better semiconductor measurements, with a focus on DC I-V and capacitance-voltage (C-V) measurements. It also touches on more specific applications and how you can simplify making the measurements…
Numéro du document : 1KW-60780-1
Brochure 12 Apr 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.4.1
This version of Clarius+ is only supported on Microsoft Windows 10. If installed on the 4200A-SCS system with a Clarius+ release prior to V1.4, contact Keithley, a Tektronix company, at tek.com to upgrade the parameter analyzer.If installing on a personal…
Référence produit : 4200A-CLARIUS-V1.4.1
Application 28 Feb 2018
Model 4200A-SCS Clarius V1.4.1 Software Release Notes The Clarius+ software application suite is the software for the 4200A-SCS.…
Référence produit : 077132605
28 Feb 2018
Upgrade Your 4200-SCS System and Protect Your Investment
Upgrade your 4200-SCS Parameter Analyzer to the 4200A-SCS - the industry's highest performance analyzer - and accelerate I-V, C-V, and ultra-fast pulsed I-V testing of your complex devices for materials research, semiconductor device design, process…
Numéro du document : 1KW-60873-1
Fact Sheet 22 Feb 2018
Does the 4200A-SCS support ICCAP?
Although the 4200ICCAP-6.0 driver is obsolete, the 4200A is ICCAP supported through the KXCI software.  The 4200 drivers in the KXCI software come with ICCAP in them and all KXCI programs for the 4200 are compatible with the 4200A. Note: ICCAP only…
FAQ ID: 255351 09 Feb 2018
4200A-SCS Clarius+ Software Suite V1.3

Référence produit : 4200A-CLARIUS-V1.3
Application 07 Feb 2018
Does Model 4200A-SCS support Model 590-CV meter like the Model 4200-SCS?
The Model 590-CV is a stand alone CV meter and can be controlled from either the 4200A-SCS and 4200-SCS using the KIXI (remote interface software).
FAQ ID: 249356 25 Jan 2018
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