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BERTScope CR
L’architecture avancée de la gamme CR d’outils de récupération d’horloge BERTScope permet de mesurer et d’afficher la réponse de fréquence PLL entre 100 kHz et 12 MHz, soit la plus haute bande passante de boucle disponible actuellement sur le marché pour les tests de gigue . Ces premiers instruments de récupération d’horloge offrent un contrôle total sur les paramètres, y compris la bande passante de boucle, l’alignement de crête/l’amortissement et l’affaiblissement.
Caractéristiques | Gains |
| Débits de données jusqu’à 28,6 Gb/s | Couverture continue du débit de données pour les I/O dernière génération, y compris les normes PCIe 3.0, 10GBASE-KR, 16xFC, 25 et 28G CEI et 100GBASE-LR-4 et ER-4. |
| Fonctions de commande, de mesure et d’affichage indépendantes pour la boucle de verrouillage de phase (PLL) BW, le transfert de gigue (JTF) et l’alignement de crête. | Offre une réponse « Golden PLL » (PLL de référence) précise pour les tests de conformité de la gigue d’émetteur et l’étalonnage des tests de sensibilité du récepteur sous contrainte. Offre une flexibilité totale pour la caractérisation des appareils. |
| Égalisation d’entrée pour la récupération d’horloge | Permet une récupération d’horloge sur les signaux à ISI élevé, sans impact sur le flux de données testé. L’horloge récupérée permet d’effectuer d’autres analyses, notamment le « nettoyage de l’œil », une application de filtrage FIR du signal et test BER. |
| Mesure de la densité du front | Permet de déterminer instantanément la densité de marque du signal testé. |
| Analyse du spectre de gigue et mesures de gigue intégrée avec fréquence fenêtrée | Offre un affichage entre 200 Hz et 90 MHz de la gigue, par rapport à la fréquence, avec des mesures basées sur curseur de l’amplitude et de la fréquence des crêtes de gigue. Mesures de gigue intégrées avec fréquence fenêtrée pour les tests de conformité PCIe 2.0. |
| PLL BW 24 MHz en option | Répond aux critères de bande passante JTF des normes USB 3.0, 6 G SATA et PCIe-Gen 3. |
| Large gamme de sorties d’horloge (récupérées) sur substrat. | Souvent nécessaires pour l’horloge de référence d’un appareil. |
| Modèle | Description | Débit de données maximal | Tarif |
|---|---|---|---|
| CR125A | Instrument de récupération d’horloge | 12,5 Gb/s | Configuration et devis |
| CR175A | Instrument de récupération d’horloge | 17,5 Gb/s | Configuration et devis |
| CR286A | Instrument de récupération d’horloge | 28,6 Gb/s | Configuration et devis |
| Data Sheet | Accessory | Description |
|---|---|---|
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CR125ACBL | HIGH PERFORMANCE DELAY MATCHED CABLE SET (REQUIRED FOR BERTSCOPE & CRU IN SSC APPLICATIONS) |
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PMCABLE1M | Precision Phase Matched Cable Pair, 1m |
Downloadable Software
| BERTSCOPE PC APPLICATION SOFTWARE - V12.04.5522 |
| BERTScopePC Software, V 10.15.1284 |
| BERTScopeCR Help File V1.0 |
| BERTScopePC Software V 10.9.1024 |
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Anatomy of an Eye Diagram
This application note discusses different ways that information from an eye diagram can be sliced to gain more insight. It also discusses some basic ways that transmitters, channels, and receivers are tested. Download the PDF to read more:
Numéro du document : 65W_26042_0 |
Note d’application | |
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What is the electrical specifications for SMAPOWERDIV used with the Clock Recovery in Tektronix BERT scopes?
NOMINAL IMPEDANCE: 50 ohm
FREQUENCY RANGE: dc to 18.0 GHz
INSERTION LOSS (between input & either output arm):
6 dB nominal, -0.2 dB, +1.2 to 10 GHz, 1.5 to 18 GHz
MAXIMUM INPUT POWER: 1 watt CW, 1 kilowatt peak
(5 μsec pulse width, 0.05% duty cycle …
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Numéro de la FAQ64616 | |
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On the PCIe PLL Bandwidth Tester Windows application that's used with the CR286A, there is a drop down under "Options" called "Enhanced Measurement" and has the options of "Standard", "Sensitive", and "Disabled".What does each option do?
In 8G mode only, some DUT’s are sensitive to the initialization routine, which involves forcing a re-lock of the DUT PLL several times to optimize the peaking measurement.The “Standard” selection uses a method that toggles the CR divider reset to …
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Numéro de la FAQ72106 | |
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How do I use TekExpress to perform a USB 3.0 Device Transmitter Test?
USB 3 Tx Testing ScriptHello and welcome to Tektronix! Today I’m going to walk through a USB 3 Device Transmitter Test using TekExpress.A USB 3 Transmitter test consists of acquiring the signal from a USB 3 Device and running it through various tests …
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Numéro de la FAQ69376 | |
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Tektronix BERTScope
Clock Recovery Declassification & Securities
Instructions
This document helps customers with data security concerns to sanitize or remove memory devices from the BERTScope Clock Recovery Series instruments. Numéro de référence : 077110200 |
Déclassification | |
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Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide Programmer Manual
This document describes remote control commands for BERTScope products. Numéro de référence : 077069605 |
Programmation | |
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Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide Programmer Manual
This document describes remote control commands for BERTScope products. Numéro de référence : 077069604 |
Programmation | |
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Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide
Programmer Manual
This document describes remote control commands for BERTScope products. Numéro de référence : 077069603 |
Programmation | |
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Tektronix BERTScope
Clock Recovery Instruments
Quick Start User Manual
Supports BSA Software V10+. Provides information on the clock recovery instruments for use with Tektronix BERTScope Bit Error Rate Analyzers. Numéro de référence : 071285202 |
Utilisateur principal | |
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Tektronix BERTScope
BSAPCI3
Instructions
Provides high-level installation instructions for BERTScope PCIe 3.0 Receiver Testing. Numéro de référence : 071304600 |
Utilisateur | |
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Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide
Programmer Manual
This document describes remote control commands for BERTScope products. Numéro de référence : 077069602 |
Programmation | |
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Tektronix BERTScope
BSA & BA Remote Control Guide
Programmer Manual
This document describes remote control commands for BERTScope products. Numéro de référence : 077069601 |
Programmation | |
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BERTSCOPE PC APPLICATION SOFTWARE - V12.04.5522
The BERTScope PC software provides for PC control of BERTScope Clock Recovery (CR125A, CR175A, CR286A) and Digital Pre-Emphasis Processor (DPP125B) instruments that are being operated as stand-alone instruments, i.e. not connected directly to a …
Numéro de référence : 063430806 |
Application | |
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BERTScopePC Software, V 10.15.1284
The BERTScope PC software provides for PC control of BERTScope Clock Recovery (CR125A, CR175A, CR286A) and Digital Pre-Emphasis Processor (DPP125, DPP125B, DPP125C)and BSAITS instruments that are being operated as stand-alone instruments, i.e. not …
Numéro de référence : 063430803 |
Application | |
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BERTScopeCR Help File V1.0
BERTScope Clock Recovery Instrument Help File for offline use.
Numéro de référence : 066130900 |
Application | |
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BERTScopePC Software V 10.9.1024
The BERTScope PC software provides for PC control of BERTScope Clock Recovery (CR125A, CR175A, CR286A) and Digital Pre-Emphasis Processor (DPP125, DPP125B) instruments that are being operated as stand-alone instruments, i.e. not connected directly to …
Numéro de référence : 1000000482 |
Application | |
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PCI Express® Transmitter PLL Testing — A Comparison of Methods
There are several methods of measuring PLL loop response, based on the type of test instrumentation used. As expected, the various methods trade off test accuracy, test speed (throughput), ease of use, ease of setup, and initial cost. In addition …
Numéro du document : 65W_25911_0 |
Guide de présentation | |
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Comparing Jitter Using a BERTScope® Bit Error Rate Testing
Comparison of DCD and F/2 Jitter.
Numéro du document : 65W_26040_0 |
Note d’application | |
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Clock Recovery Primer, Part 1
Part 1 of looking at clock recovery from a practical point of view with emphasis on how it affects measurements.
Numéro du document : 65W_26023_0 |
Guide de présentation | |
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Characterizing an SFP+ Transceiver at the 16G Fibre Channel Rate
Study the measurements needed to test an SFP+ transceiver to the 16G Fibre Channel standard, covering both Multi- Mode 850 nm and Single Mode 1310 nm interfaces. Included is a test and characterization example using a Single Mode 1310 nm laser SFP+ …
Numéro du document : 65W_25908_0 |
Guide de présentation | |
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Clock Recovery’s Impact on Test and Measurement
As clock recovery becomes increasingly common in more systems and test setups, its effects on measurements must be considered. Many outside influences can disturb the relationship between data and how it is clocked. By understanding the relationship …
Numéro du document : 65W_26074_0 |
Note d’application | |
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Clock Recovery Primer, Part 2
Part 2 of looking at clock recovery from a practical point of view with emphasis on how it affects measurements.
Numéro du document : 65W_26024_0 |
Guide de présentation | |
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Stressed Eye: “Know What You’re Really Testing With”
BER-based measurements can provide a better view of the stress eye opening down at the deep BER levels that the receiver will be expected to operate at when it is tested.
Numéro du document : 65W_26048_0 |
Guide de présentation | |
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Stress Calibration for Jitter >1UI
While measuring the amount of jitter present on a signal is relatively straight forward conceptually; when the levels of jitter are small, amounts above a bit period (1 unit interval or UI) can be more difficult. This has practical consequences for …
Numéro du document : 65W_26047_0 |
Note d’application | |
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Dual-Dirac+ Scope Histograms and BERTScan Measurements
This primer discusses how the dual-Dirac relates to practical measurements that can be made with sampling scopes and BER-based instruments.
Numéro du document : 65W_26041_0 |
Guide de présentation | |
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BERTScope™ CR125A+ 175A+ & 286A Clock Recovery Fact Sheet
Key Specs and Ordering Information for BERTScope CR125A, 175A, & 286A Clock Recovery.
Numéro du document : 65W-25610-0 |
Fiche d’informations | |
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Evaluating Stress Components using BER-Based Jitter Measurements
This primers describes how jitter measurements can be self-verified using a BER-based Jitter Peak measurement and how to simplify the jitter measurement challenge by using a pattern that does not contribute pattern-dependent effects, and finally …
Numéro du document : 65W_26050_0 |
Guide de présentation | |
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Six Sigma’ Mask Testing with a BERTScope® Bit Error Rate Tester
Six sigma is a form of mask testing that provides for critical insight when mask testing depth specification are important for pass/fail testing or deeper evaluation on high-speed signaling standards to provide a significantly more complete picture …
Numéro du document : 65W_26046_0 |
Note d’application | |
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2020 Tektronix and Keithley Product Catalog
We have the right products to ensure your success. Browse our new Tektronix and Keithley Product Catalog and explore our complete line of test and measurement solutions. You’ll find over 130 pages of key product details and specifications …
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Guide de sélection | |
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Stressed Eye Primer
In addition to an introduction to stressed eye testing, this primer discusses some of the high-speed standards that use it, and how a receiver test using stressed eye is constructed.
Numéro du document : 65W_26049_0 |
Guide de présentation | |
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BERTScope® Bit Error Rate Testers Jitter Map “Under the Hood”
Delve into jitter problems in new ways, such as examining Random Jitter on each edge of the data pattern, separating out the jitter caused by transmitter pre-emphasis, and performing jitter decomposition on long patterns such as PRBS-31.
Numéro du document : 65W_25907_0 |
Note d’application | |
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Bridging the Gap Between BER and Eye Diagrams — A BER Contour Tutorial
BER Contour Measurement - What it is, how it is constructed, and why it is a valuable way of viewing parametric performance at gigabit speeds.
Numéro du document : 65W_26019_0 |
Note d’application |