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Gamme BSX de testeurs BERTScope
Un marché en rapide évolution exige des workflows et des processus de test Rx également rapides. La gamme BSX de testeurs BERTScope® représente le chemin le plus rapide vers la mise en conformité. Cette solution de test d’émetteur BERT possède des caractéristiques uniques qui éliminent toute complexité des tests de récepteur et apportent la confiance nécessaire dans les conceptions de 3e et 4e génération.
- Solution unique pour le contrôle des tolérances, le débogage et la conformité du récepteur.
- Test pour les normes de 3e et 4e génération - Normes PCIe, SAS/SATA, USB3.1, DP + Normes propriétaires.
- Contrôle de flux et établissement de liaison pour les composants allant jusqu’à 32 Gb/s de débit.
Jusqu’à 32 Gb/s
Mise en conformité plus rapide pour les appareils de 4e génération.
Automatise les tests de conformité de votre composant avec les normes de 3e et 4e génération : PCIe, SAS, USB3.1 et autres normes destinées aux appareils fonctionnant à un débit pouvant atteindre 32 Gb/s. Notre solution sophistiquée exécute des mesures précises et reproductibles, simples à mettre en œuvre pour un grand nombre de cas spécifiés dans la norme.
Détecter. Localiser. Corriger.
Les appareils de la nouvelle gamme BSX offrent le seul système sophistiqué du marché pour l’analyse d’erreur binaire avec capture et stockage du contexte de chaque erreur (durée et position binaire). Libérez votre planning et votre esprit des préoccupations, avec une analyse des causes premières accélérée, mettant les erreurs en corrélation et délivrant des connaissances exploitables.
Maîtrisez le débogage en localisant avec précision les erreurs
Bien plus qu’une mise en conformité.
Observez la réponse de votre appareil aux cas de bouclage et de test de formation de liaison. Les tests de conformité étant pris en charge par le protocole d’établissement de liaison configurable par l’utilisateur, et l’égaliseur à quatre dérivateurs intégré, il est possible de placer sans effort et efficacement l’équipement testé en mode de bouclage, ou terminer un processus de formation de liaison.
Relevez les défis relatifs aux tests de récepteur dans les applications d’I/O de 4e génération
Option | Description |
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Option FEC | Émulation de la correction d’erreur directe |
Option UPM | Mise en correspondance des modèles de détecteur configurables par l’utilisateur |
Option F2 | Génération de gigue F/2 |
Option J-MAP | Ajout d’un logiciel de décomposition de la gigue |
Option LDA | Ajout d’un logiciel d’analyse des données en direct |
Option STR | Génération de signaux sous contrainte |
Option SLD | Ajout d’un logiciel de données en direct sous contrainte, en option |
Option TXEQ | Ajout d’une fonction d’égalisation Tx à quatre dérivateurs |
Fiche technique | Package logiciel / Option logicielle | Description | Configuration et devis |
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Fiche technique | Accessoire | Description |
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Affichage Fiche technique | BSA12500ISI | Carte ISI différentielle |
BSARACK | Kits pour montage en baie BSA, SÉCURITÉ CONTRÔLÉE | |
Affichage Fiche technique | BSXPCI3EQ | Kit d’égalisation de détecteur BERTScope, pour PCIe Gen3 |
Affichage Fiche technique | BSXPCI4EQ | Kit d’égalisation de détecteur BERTScope, pour PCIe Gen4 |
Affichage Fiche technique | BSXSICOMB | Kit de combinateur d'interférences pour BERTScope version BSX |