Science des matériaux

Découvrez le potentiel des nouveaux matériaux

Les consommateurs recherchent actuellement des appareils électroniques plus compacts, plus légers, moins onéreux, mais qui offrent de meilleures performances et des temps de fonctionnement supérieurs. Pour répondre à ces besoins contradictoires, les chercheurs doivent développer du nouveau matériel, miniaturiser les appareils existants et améliorer l’efficacité des appareils. L’effort à effectuer pour augmenter la densité et les performances de l’appareil tout en réduisant la consommation électrique a poussé les chercheurs à se tourner vers le graphène et d’autres solides en 2 dimensions (2D) offrant une excellente mobilité de porteur de charge ainsi que vers les semiconducteurs organiques et les circuits nanoélectroniques.

Les batteries à rendement élevé basées sur les nouveaux électrolytes et matériaux d’électrodes s’avèreront essentielles pour augmenter les temps de fonctionnement. Les technologies avancées des piles à combustibles conçues pour améliorer l’efficacité et réduire le coût de la prochaine génération de véhicules électriques sont également en cours d’évaluation. La volonté d’utiliser des solutions de génération d’alimentation plus vertes pousse les investigations vers les superconducteurs à des températures supérieures et les semiconducteurs de puissance qui sont essentiels à la conversion de puissance. Les matériaux tels que l’arséniure de gallium (GaAs) et le carbure de silicium (SiC) seront incontournables pour les futures technologies de transmission de puissance. La science des matériaux tient également une place centrale dans l’efficacité de la conversion et la puissance en sortie des cellules photovoltaïques. Il est nécessaire d’étudier de nouveaux matériaux et structures pour améliorer l’efficacité des diodes laser, et ainsi augmenter les capacités de transmission des données.

La caractérisation des matériaux repose sur des mesures extrêmement sensibles, de la mesure des courants de fuite de l’ordre du femtoampère aux mesures de résistances en microohms pour évaluer la résistivité des matériaux à mobilité de porteurs de charge élevée. De l’autre côté de l’échelle, la caractérisation des derniers isolants requiert souvent des mesures de l’ordre du téraohm. Les recherches en matière de superconducteurs ou de nanomatériaux effectuées aux environs de 0 ⁰K imposent de réduire la puissance de l’alimentation afin d’éviter tout échauffement susceptible d’affecter la réponse du circuit ou du matériau ou d’endommager ce dernier. Il est dans ce cas nécessaire de délivrer des courants très faibles ou des impulsions de courant.

Bibliothèque

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Performing Cyclic Voltammetry Measurements Using 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab Systems

This application note outlines using either a 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab System to perform cyclic voltammetry using the built-in test script and electrochemistry translation cable accessory kit.

Leakage Current and Insulation Resistance Measurements
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements

With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data collection to a few minutes, while improving accuracy.

Hall Effect Measurements Essential for Characterizing High Carrier Mobility
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS
Resistivity Measurements Using the Model 2450 SourceMeter SMU Instrument and a Four-Point Collinear Probe
Making High Resistance Measurements on Small Crystals in Inert Gas or High Vacuum w/ the Model 6517A

The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall…

31:10
Titre
Use Hall Effect Measurements for the Characterization of New and Existing Materials
Tips and Techniques to Simplify MOSFET/MOSCAP Device Characterization

This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to get the most information about your device.

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