Science des matériaux

Découvrez le potentiel des nouveaux matériaux

Si vous développez des matériaux ou des dispositifs innovants, comme des semiconducteurs composites à base de silicium, des films légers pour cellules photovoltaïques, des composants au graphène ou autres nanomatériaux, vous êtes à la pointe de l’innovation en matière d’applications des technologies de semiconducteur, dans l’électronique, les appareils médicaux, les soins de santé, etc. Nous allons vous présenter les dernières innovations et techniques en date pour obtenir une caractérisation électrique précise de ces nouveaux matériaux, par exemple :

  • Caractérisation électrochimique
  • Mesure des nanomatériaux
  • Test de l’effet de Hall des structures de composants au graphène
  • Test pulsé I-V de matériaux/composants et de semiconducteurs composites
  • Surveillance du courant du faisceau d’ions concentré
  • Caractérisation des nanocristaux
  • Caractérisation C-V des cellules photovoltaïques
  • Analyse des paramètres de semiconducteurs
  • Mesures de courant ultra-faible

Nos solutions complètes de caractérisation électrique des nouveaux matériaux et des nouveaux composants peuvent vous aider à aller plus loin dans vos inventions et à réimaginer notre monde.

Bibliothèque

Title
Performing Cyclic Voltammetry Measurements Using 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab Systems

This application note outlines using either a 2450-EC or 2460-EC Electrochemistry Lab System to perform cyclic voltammetry using the built-in test script and electrochemistry translation cable accessory kit.

Leakage Current and Insulation Resistance Measurements
Characterizing Nanoscale Devices with Differential Conductive Measurements

With appropriate instrumentation, the four-wire source current/measure voltage method is a great improvement over older differential conductance measurements, which are slow, noisy, and complex.  The new technique's single sweep shortens hours of data collection to a few minutes, while improving accuracy.

Hall Effect Measurements Essential for Characterizing High Carrier Mobility
Electrical Characterization of Carbon Nanotube Transistors (CNT FETs) with the Model 4200-SCS Semiconductor Characterization System
Four-Probe Resistivity and Hall Voltage Measurements with the Model 4200-SCS
Resistivity Measurements Using the Model 2450 SourceMeter SMU Instrument and a Four-Point Collinear Probe
Making High Resistance Measurements on Small Crystals in Inert Gas or High Vacuum w/ the Model 6517A

The webinar covers semiconductor and other material characterization using Hall…

31:10
Titre
Use Hall Effect Measurements for the Characterization of New and Existing Materials
Tips and Techniques to Simplify MOSFET/MOSCAP Device Characterization

This webinar presents a new process that makes characterization and parameter extraction easier and quicker. We'll be discussing the extraction of common parameters as well as which tests to run to get the most information about your device.

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